A400GE-QDD 4-Port Layer 1 BERT QSFP-DD Testsystem

Das Keysight A400GE-QDD Vier-Port-Testsystem mit 400GE / 200GE / 100GE / 50GE Layer 1 BERT QSFP-QDD umfasst ein festes Chassis mit der neuesten Version der Keysight KiOS-Software.

Produktbild
  • Interface

    QSFP-DD

  • Interface speed modes

    400G

  • Protocol support

    Ethernet

  • Ports

    4

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Highlights

Das Keysight A400GE-QDD Vier-Port-Testsystem ermöglicht die Überprüfung der Bitfehlerrate (BER) von Geräten mit hoher Portanzahl mithilfe der browserbasierten Single-Page-Anwendung KiOS. Mit dem Testsystem können Sie außerdem Folgendes durchführen:
  • Identifizieren Sie Probleme schnell mit KiOS. Die Anwendung bietet eine systemweite Ansicht der Bitfehler-Teststatistiken (BERT) und der Vorwärtsfehlerkorrektur (FEC) über alle Lanes hinweg. Sie unterstützt Geschwindigkeiten von 1 x 400GE, 2 x 200GE, 4 x 100GE und 8 x 50GE.
  • Messen Sie die BER- und FEC-Leistung in Minuten statt in Stunden. Evaluieren Sie neue optische Transceiver und Kupferkabelverbindungen gleichzeitig bei allen Ethernet-Geschwindigkeiten mithilfe der erweiterten BERT-Option.
  • Generieren Sie ganz einfach Pass/Fail-Testberichte und führen Sie Langzeittests (zeitgesteuert) sowie Stresstests unter Verwendung der Analyse der KP4-FEC-Symbol-Bitfehlerverteilung von Keysight durch, um burst- und thermische Fehler im Zeitverlauf zu erkennen.
  • Vereinfachen Sie die Verbindungen zwischen dem A400GE-QDD und dem Keysight M8040A BERT-Analysator sowie Ihren Entwicklungsboards mithilfe optionaler Host- und Modul-Konformitätsboards, Kabel und Adapterpakete.
  • Nutzen Sie praxiserprobte Technologie, die auf zwei Generationen von 400GE QSFP-DD-Testsystemen basiert.