Leistungsbauelementanalysator / Kennlinienschreiber Hochleistungsprüfung für Si-, SiC- und GaN-Bauelemente

• Zuverlässige und wiederholbare Messung der dynamischen Eigenschaften von Leistungshalbleitern mit großem Bandabstand (SiC, GaN).
• Zu den gemessenen Eigenschaften gehören unter anderem Ein- und Ausschaltverhalten, Schaltvorgänge, Rückwärtserholung, Gate-Ladung und viele weitere.
• Testumgebung für den Prüfling (DUT) und den Benutzer.
• Die erweiterbare, aufrüstbare, modulare Plattform ermöglicht das Testen aller Leistungselektronikgeräte.

Als serienmäßige Messlösung liefert das PD1500A zuverlässige, wiederholbare Messungen von Halbleitern mit breiter Bandlücke. Die Plattform gewährleistet die Sicherheit des Benutzers und den Schutz der Messhardware des Systems.

Die Fähigkeit, reproduzierbare DPT-Ergebnisse zu gewährleisten, basiert auf Keysights Expertise in der Messtechnik. Beispiele hierfür sind Innovationen bei Hochfrequenztests (Gigahertz-Bereich), Messungen geringer Leckströme (Femtoampere-Bereich) und gepulsten Leistungsmessungen (1.500 A Strom, 10 μs Auflösung). Dadurch ist Keysight optimal aufgestellt, um Sie bei der Bewältigung der Herausforderungen der dynamischen Charakterisierung von Leistungshalbleitern zu unterstützen.

Das PD1500A umfasst Standardmesstechniken wie Tastkopfkompensation, Offsetkorrektur, Entzerrung und Gleichtaktunterdrückung. Diese Techniken werden in einer innovativen Messtopologie und einem optimierten Layout eingesetzt. Speziell für dieses System wurde eine halbautomatische Kalibrierungsroutine (AutoCal) entwickelt, die Systemverstärkungs- und Offsetfehler korrigiert. Das System nutzt außerdem De-Embedding-Verfahren zur Kompensation induktiver Parasiten im Stromshunt.

JEDEC ist weltweit führend in der Entwicklung offener Standards und Publikationen für die Mikroelektronikindustrie. Die JEDEC-Komitees leisten einen wichtigen Beitrag zur Entwicklung von Standards für ein breites Technologiespektrum.

JEDEC-Komitee: JC-70 Leistungselektronische Halbleiter mit großem Bandabstand
Die JEDEC-Standards erkannten den Bedarf an WBG-Standards für die Leistungshalbleiterindustrie. Im September 2017 wurde das Komitee JC70 für Halbleiter mit großem Bandabstand (Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor) für GaN (JC70.1) und SiC (JC-70.2) gegründet. Jeder Abschnitt umfasst drei Arbeitsgruppen, die sich mit Zuverlässigkeits- und Qualifizierungsverfahren, Datenblattelementen und -parametern sowie Test- und Charakterisierungsmethoden befassen.

Keysight beteiligt sich aktiv an der Entwicklung dieser Standards.

Während JEDEC die dynamischen Prüfverfahren für WBG-Bauteile weiter definiert, zeichnen sich erste standardisierte Tests ab. Der Keysight PD1500A DPT ermittelt folgende wichtige Leistungsparameter:

• Einschalteigenschaften
• Abschaltcharakteristik
• Dynamischer Einschaltwiderstand
• Dynamischer Strom und Spannung
• Schaltcharakteristik
• Rückwärtswiederherstellung
• Gate-Gebühr
• Abgeleitete Ausgabecharakteristika