Inline-Hochleistungs-IKT-System; Serie 7i

Das E9988GL Keysight i3070 Series 7i Inline High-Density In-Circuit Test (ICT) System bringt ICT-Technologien in Ihre automatisierte Fertigungslinie.

Produktbild
  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    5760

  • System width

    800 mm

  • Maximum parallel testing

    2

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Highlights

Wir stellen Ihnen das Keysight i3070 Series 7i Inline-Testsystem vor – Ihr Weg zu überlegener Testabdeckung und gesteigertem Durchsatz.

Ausgestattet mit den neuesten Quad-Density-Pin-Karten bietet die Serie 7i Platz für bis zu 5760 Testknoten bei einer kompakten Bauform von nur 800 mm Breite. Diese erhöhte Kapazität ermöglicht die Bearbeitung komplexer Testanforderungen und größerer Panels, wodurch der Aufwand für Boardhandling und -transfer reduziert wird.

Sie können beruhigt sein, denn Ihre Investition ist sicher. Die Serie 7i garantiert volle Abwärtskompatibilität mit den aktuellen Testprogrammen und Vorrichtungen E9988E und E9988EL.

  • Doppelte Anzahl Testknoten: Bietet Platz für bis zu 2x mehr Testknoten bei gleichzeitig kompakter Stellfläche.
  • Integriert Superkondensatorprüfung: Testet mühelos Superkondensatoren bis zu 100 Farad (F) durch eine verfügbare Integrationslösung.
  • Ermöglicht Messungen bei niedrigen Strömen: Erreicht Messungen bis hinunter zu 100 Nanoampere (nA) und verkürzt so die Entwicklungszeit.
  • Beschleunigt den Shorts-Test: Führt den verbesserten Shorts-Test-Algorithmus 50 % schneller aus als herkömmliche Methoden.
  • Verbesserte Testabdeckung: Erhöht die Testabdeckung durch automatische Cluster-Testgenerierung.
  • Ermöglicht Erweiterung: Bietet einen integrierten Funktionsanschluss zur Erweiterung der Testmöglichkeiten.
  • Überwindet Zugriffsbeschränkungen: Integriert den x1149 Boundary Scan Analyzer, um den eingeschränkten Testzugriff zu überwinden.

Weitere Informationen zu den ICT-Systemen von Keysight finden Sie unter www.keysight.com/find/ict