A400GE-QDD 4-Port Layer 1 BERT QSFP-DD Testsystem

Das Keysight A400GE-QDD Vier-Port-Testsystem mit 400GE / 200GE / 100GE / 50GE Layer 1 BERT QSFP-QDD umfasst ein festes Chassis mit der neuesten Version der Keysight KiOS-Software.

Produktbild
  • Interface

    QSFP-DD

  • Interface speed modes

    400G

  • Protocol support

    Ethernet

  • Ports

    4

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Highlights

Das Keysight A400GE-QDD Vier-Port-Testsystem ermöglicht die Überprüfung der Bitfehlerrate (BER) von Geräten mit hoher Portanzahl mithilfe der browserbasierten Single-Page-Anwendung KiOS. Mit dem Testsystem können Sie außerdem Folgendes durchführen:
  • Mit KiOS lassen sich Probleme schnell erkennen. Die Anwendung bietet eine systemweite Übersicht über Bitfehlerratentests (BERT) und Vorwärtsfehlerkorrekturstatistiken (FEC) über alle Lanes hinweg. Sie unterstützt die Geschwindigkeiten 1 x 400GE, 2 x 200GE, 4 x 100GE und 8 x 50GE.
  • Messen Sie die BER- und FEC-Leistung in Minuten statt in Stunden. Evaluieren Sie neue optische Transceiver und Kupferkabelverbindungen gleichzeitig bei allen Ethernet-Geschwindigkeiten mithilfe der erweiterten BERT-Option.
  • Generieren Sie auf einfache Weise Gut/Schlecht-Testberichte und führen Sie Langzeittests (zeitgesteuerte Tests) und Stresstests durch, indem Sie die Symbolbitfehlerverteilungsanalyse von Keysight KP4 FEC verwenden, um sprunghafte und thermische Fehler im Laufe der Zeit zu erkennen.
  • Vereinfachen Sie die Verbindungen zwischen dem A400GE-QDD und dem Keysight M8040A BERT-Analysator sowie Ihren Entwicklungsboards mithilfe optionaler Host- und Modul-Konformitätsboards, Kabel und Adapterpakete.
  • Nutzen Sie praxiserprobte Technologie, die auf zwei Generationen von 400GE QSFP-DD-Testsystemen basiert.