Ausbildung in Digital- und HF-Messung

Verbessern Sie Ihr Verständnis von Digital- und HF-Design und -Test, indem Sie von Experten für Metrologie und Messtechnik lernen. Erlernen Sie die Grundlagen von HF-Messtechnik, Design und Simulation. Erfahren Sie, wie Sie die Herausforderungen des digitalen Gigabit-Designs meistern können. Entdecken Sie digitale und HF-Messvideos, Anwendungshinweise, technische Seminare und Technologie-/Produktvideos.

Metrologie und Kalibrierung

Führen Sie jede Messung mit der Keysight-Messtechnik mit Zuversicht durch.

Erleben Sie Messicherheit mit Metrologie und Messtechnik.

Messgenauigkeit, auf die Sie sich verlassen können

Erfahren Sie, dass jede Messung durch von Keysight entwickelte Kalibrierungsverfahren, die die Gerätespezifikationen überprüfen, auf die National Metrology Institutes (NMIs) rückführbar ist.

Verlassen Sie sich bei fortschrittlicher Messtechnik auf Keysight.

Fortschrittliche Metrologie

Verlassen Sie sich auf Keysight-Ingenieure, die mit den NMIs zusammenarbeiten, um strenge Messtechniken in der technischen Metrologie und in aufkommenden Technologien zu entwickeln.

Die technische Metrologie unterstützt durch Metrologie und Messtechnik.

Jahrzehntelange Metrologie-Erfahrung

Bleiben Sie über sich ändernde Compliance-Anforderungen und deren praktische Anwendungen auf dem Laufenden, indem Sie mit Keysight-Messtechnikern zusammenarbeiten, die bei internationalen Normungsorganisationen mitwirken.

Metrologie-Veranstaltungen

Erweitern Sie Ihr Metrologienetzwerk und lernen Sie gleichzeitig, indem Sie an bevorstehenden Veranstaltungen teilnehmen.

Erfahren Sie mehr über Messunsicherheiten und -risiken

White Papers 2018.12.07

Uncertainty Analysis for Uncorrelated Input Quantities and a Generalization Welch-Satterthwaite Formula

Uncertainty Analysis for Uncorrelated Input Quantities and a Generalization Welch-Satterthwaite Formula

The Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement (GUM) has been widely adopted in the different fields of the industry and science. Learn how to use for uncorrelated input quantities.

2018.12.07

White Papers 2019.01.04

Revisiting Mismatch Uncertainty with the Rayleigh Distribution

Revisiting Mismatch Uncertainty with the Rayleigh Distribution

This paper examines several important aspects of estimating mismatch uncertainty, which is often a major component of the total uncertainty for RF and microwave measurements.

2019.01.04

White Papers 2018.12.05

Establishing Traceability for Quantities Derived from Multiple Traceable Quantities

Establishing Traceability for Quantities Derived from Multiple Traceable Quantities

Provides method of developing traceability for measurements (eg. phase noise) that have no SI units.

2018.12.05

Application Notes 2018.12.11

Using Calibration to Optimize Performance in Crucial Measurements

Using Calibration to Optimize Performance in Crucial Measurements

This application covers two goals: help you ensure that you get the calibration you expect (and deserve), and help you improve effective measurement performance through innovative use of calibration.

2018.12.11

White Papers 2018.12.03

Calibration Process Innovation Using Non-Required Guard Banded Testing

Calibration Process Innovation Using Non-Required Guard Banded Testing

Calibration services vary as to how to set the acceptance limits compared to the required tolerance. Using a guard band to reduce the acceptance limit will increase the confidence in the calibration.

2018.12.03

White Papers 2018.12.05

Isolate Analyzing and Sourcing Errors Near Reference Frequency Harmonics

Isolate Analyzing and Sourcing Errors Near Reference Frequency Harmonics

When performing a calibration, the risk of incorrectly declaring a device as in-tolerance (false-accept risk) is dependent upon several factors such as the specified tolerance limit and guard band.

2018.12.05

White Papers 2018.12.13

Using a Manufacturer’s Specification as a Type B Error Contribution

Using a Manufacturer’s Specification as a Type B Error Contribution

Examines these issues in the informal context of a Pachinko gambling device. As a result, it will become clear why an uncertainty analysis (employing TYPE B data) is a worst case analysis.

2018.12.13

Application Notes 2018.12.03

Understanding Measurement Risk

Understanding Measurement Risk

An intuitive explanation of these probability density functions drawing on Monte Carlo simulation to demonstrate the relationship between a device’s true value and the corresponding measured value. Keywords: measurement risk, calibration, metrology, monte carlo

2018.12.03

White Papers 2018.12.18

A Guard-Band Strategy for Managing False-Accept Risk

A Guard-Band Strategy for Managing False-Accept Risk

When performing a calibration, the risk of incorrectly declaring a device as in-tolerance (false-accept risk) is dependent upon several factors such as the specified tolerance limit and guard band.

2018.12.18

White Papers 2018.12.11

Language of Specifications

Language of Specifications

This paper explains some of the arcane language used in describing a product's characteristics.

2018.12.11

White Papers 2018.12.13

ATE System Level Calibration and Its Impact on Cost, Quality and Schedule

ATE System Level Calibration and Its Impact on Cost, Quality and Schedule

This paper proposes an alternative method to provide system level specification and system measurement calibration which will extend the system’s ability to be used for multiple products.

2018.12.13

Application Notes 2019.04.18

Calculating Uncertainty Using Digital Multimeter Ratio Measurement Techniques

Calculating Uncertainty Using Digital Multimeter Ratio Measurement Techniques

This paper compares three DMM ratio measurement techniques for determining the traceable value and measurement uncertainty of an unknown input.

2019.04.18

Technical Overviews 2018.12.16

Specifications Guidelines

Specifications Guidelines

Keysight Technologies has definitions for its Test & Measurement product specifications and how they are presented. The following material is extracted from these manufacturing recommendations.

2018.12.16

Grundlagen der Elektronik-Messtechnik

Stöbern Sie hier in den Anwendungsberichten, Seminaren und Schulungen für Messtechnik und besuchen Sie unsere Keysight-Foren für aktuelle Diskussionen.

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