產品特性

4080 系列:全方位參數測試系統解決方案

Keysight 4080 系列提供基本參數測試所需的各種量測功能。 您可輕鬆執行直流和電容量測,例如 Vth、Ids、Idoff 和 Cox 等。 4080 系列支援三種類型的電源量測設備(SMU),方便您進行直流量測。 其他的儀器選項,例如數位電壓錶(DVM)、頻譜分析儀和 LCD 電錶,可提供增強的量測功能。

  • 符合產業標準的參數測試系統,與 SPECS 和 4070 系列相容
  • 具有非同步和同步並聯測試功能,可將量測速率提高 50%
  • 更靈活的配置:標配低電流和超低電流(12 到 48 個針腳)
  • 支援 SEMI 標準,以實現測試自動化
  • 搭載 Linux OS,可降低成本
  • 完全整合式參數測試解決方案,提供完善的服務和支援

全面克服主流半導體技術的量測挑戰

4080 系列有兩種型號,可根據您的測試需求進行配置。 4082A 參數測試系統可支援所有成熟與先進半導體元件的基本參數測試,並提供同步和非同步並聯測試功能。 4082F 快閃記憶體單元參數測試系統支援高壓半導體脈衝產生器(HV-SPGU)模組和 81150A 脈衝產生器,以便分析快閃記憶體單元技術的特性。

查看 4080 系列參數測試儀型錄

主要技術規格

最大 SPGU 輸出通道數
N/A
最大量測針腳數
48
最小電流量測解析度
N/A
最小電壓量測解析度
2 µV
Parallel Parametric Test Capability
N/A
最大 SPGU 輸出通道數
最大量測針腳數
最小電流量測解析度
最小電壓量測解析度
Parallel Parametric Test Capability
N/A
48
N/A
2 µV
N/A
查看更多
附加功能:
N/A
Form Factor:
N/A
最大量測針腳數:
48
最大 SPGU 輸出通道數:
N/A
最小電流量測解析度:
N/A
最小電壓量測解析度:
2 µV
Parallel Parametric Test Capability:
N/A
類型:
Parametric Test Solution
半導體參數測試解決方案

4082A – 符合產業標準的參數測試系統

如果您的 4070 系列測試儀沒有任何服務與支援合約,您可考慮升級至 4080 系列,以獲得專業的服務與支援。

輕鬆將 4070 系列測試儀升級,並獲得有保證的 4070/SPECS 程式相容性和資料關聯性。

  • 信號源監測設備有中功率(MPSMU)、高功率(HPSMU)和高解析度(HRSMU)等機型可供選擇
  • 利用虛擬多測試頭(VMT) 軟體,進行同步和非同步並聯測試,以大幅提升測試速率
  • 1 fA 和 0.1 uV 量測解析度
  • 選配的 HS-CMU(高速電容量測設備)
  • 選配的環形振盪器量測

4082F - 快閃記憶體單元參數測試系統

具備全參數測試功能加上 SPGU(半導體脈衝產生裝置)主流和高壓 SPGU 模組,可用於評估 NAND 快閃記憶體單元的寫入/刪除特性。

  • 透過具備多達 10 個通道的內建脈衝 SPGU 進行快速而精準的量測
  • 可選擇較低成本的 Keysight81150A 脈衝產生器,最多 2 個通道
4082F 快閃記憶體單元參數測試系統

特色參數測試系統精選資源

查看所有資源

查看所有資源

是德科技客服中心提供您需要的協助