- 概述
- 所有型號
- 支援
用於管理偏振和色散挑戰的綜合性工具
Keysight XP6 級光學偏振和色散儀器提供全面的控制和分析功能。它們提供高速即時偏振合成、分析、擾頻以及偏振相關損耗和色散量測，這些是光學元件和子系統高性能特性化和驗證的關鍵指標。這些儀器專精於干涉測量、偏振對準、元件特性化和傳輸系統測試。根據您所需的功能和輸入功率範圍，選擇所需的光學偏振和色散儀器。選擇我們受歡迎的配置之一，或配置一個專屬於您的應用。
極化控制
實現完整的偏振態控制，以精確測試光纖、調變器和光子元件。
快速切換
透過高達 1 MSa/s 的取樣率和高達 100 krad/s 的偏振態 (SOP) 切換速度，擷取快速變化的偏振效應，以進行動態分析。
同步擾碼
具備時序精準度與行為複製能力的電氣同步 SOP 變更，適用於迴圈式網路壓力測試。
精巧且整合
每台儀器都結合了多種功能（擾頻器/穩定器、偏振計/控制器），以更少的儀器提供更多的功能。
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Functionality
Polarization synthesizer, Polarization analyzer, Synchronous scrambler, Polarimeter
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Input power range
-38 dBm to +19 dBm, -50 dBm to +7 dBm, < +20 dBm
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Wavelength range
1240 nm to 1650 nm
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Insertion loss
4.0 dB 至 5.0 dB
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State of polarization uncertainty
1.5° 至 2
最熱門配置
XP6 級偏振分析儀
XP6 級偏振分析儀，附偏振計
XP6 級偏振分析儀，附偏振合成器
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
光學偏振和色散測試量測光波在穿過光纖和元件時的行為。這些參數 — 偏振態 (SOP)、偏振相關損耗 (PDL) 和偏振模色散 (PMD) — 會顯著影響高速光學網路中的訊號完整性。Keysight 解決方案提供即時偏振合成、擾頻和色散量測，以確保同調傳輸和 DWDM 網路等下一代通訊系統的高性能。
Keysight 提供多種類型的光學偏振和色散測試儀器，每種儀器都針對光學元件和系統特性分析中的特定角色而設計：
偏振計
此儀器可執行全面的偏振相關損耗 (PDL) 和偏振模色散 (PMD) 測量。這對於元件特性分析和系統驗證至關重要，可協助工程師驗證偏振損害在同調傳輸系統、DWDM 網路和 AI 資料中心互連中的影響。
偏振合成器
偏振合成器可提供精確、高速的偏振態 (SOP) 控制。它用於測試調變器、光纖鏈路和光子元件等裝置在特定偏振條件下的行為。它支援可重複的 SOP 產生，以用於對準、校準和裕度測試。
偏振分析儀
偏振分析儀可即時量測和監測 SOP，進而實現動態偏振行為分析。憑藉高速取樣能力，它非常適合用於研究和製造環境中的 SOP 追蹤、元件性能評估和故障排除。
同步擾碼器與偏振穩定器
此儀器可實現迴路同步加擾和快速 SOP 切換（高達 100 krad/s），這對於網路模擬和閉迴路壓力測試至關重要。穩定器功能可確保 SOP 恆定，適用於長期漂移測試或受控實驗。
每種類型在建構完整的光學測試解決方案中都扮演著獨特的角色，具體取決於您對特性分析、對準、驗證或模擬的需求。
偏振與色散量測儀器應用於光學元件與系統開發的整個工作流程。
- 在研發實驗室中，它們有助於模擬真實世界的偏振損害。
- 在元件特性分析期間，它們會量測 PDL、PMD 和 SOP 變化。
- 在系統驗證中，它們模擬動態偏振效應，用於壓力測試。
光學偏振和色散控制器在涉及調變器、光纖鏈路、光子積體電路和同調接收器的設定中至關重要。
選擇取決於您的特定測試目標：
- 針對元件測試，請優先選擇具備高準確度 PDL/PMD 量測功能的工具。
- 針對網路模擬或同調系統測試，請選擇具備迴路同步操作功能的高速擾碼器。
- 針對研究用途，請選擇支援即時 SOP 追蹤、擾碼和控制的多功能儀器。