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キーサイト XP6-class 光偏波・分散測定器は、包括的な制御および解析機能を提供します。これらは、高速リアルタイム偏波合成、解析、スクランブル、および偏波依存損失と分散の測定を提供し、光コンポーネントおよびサブシステムの高性能特性評価と検証のための主要な指標となります。これらの測定器は、干渉計、偏波アライメント、コンポーネント特性評価、および伝送システムテストに特化しています。必要な機能と入力パワー範囲に基づいて、必要な光偏波・分散測定器を選択してください。当社の人気のある構成のいずれかを選択するか、お客様のアプリケーションに特化した構成を構築してください。
ファイバー、変調器、フォトニック部品の精密なテストのために、完全な偏波状態制御を実現します。
最大1 MSa/sのサンプリングと最大100 krad/sの偏波状態(SOP)スイッチング速度で、急速に変化する偏波効果を捕捉し、ダイナミック解析を実現します。
タイミング精度と挙動再現性を備えた、ループベースのネットワークストレステスト向け電気的に同期されたSOP変更。
各測定器は、複数の機能(スクランブラー/スタビライザー、偏光計/コントローラー)を統合することで、より少ない台数でより多くの機能を提供します。
Functionality
Polarization synthesizer, Polarization analyzer, Synchronous scrambler, Polarimeter
Input power range
-38 dBm to +19 dBm, -50 dBm to +7 dBm, < +20 dBm
Wavelength range
1240 nm to 1650 nm
Insertion loss
4.0 dB ~ 5.0 dB
State of polarization uncertainty
1.5° ~ 2
N7781C
Keysight N7781Cは光信号の偏波特性を解析するコンパクトな高速アナライザです ポアンカレ球上(ストークスパラメータ)の偏波状態(SOP)の表示を含みます。
Keysight N7781Cは光信号の偏波特性を解析する包括的な機能を備えたコンパクトかつ高速の偏波アナライザです。 ポアンカレ球上(ストークスパラメータ)の偏波状態(SOP)の表示を含みます。 オンボード校正データとオンボードアルゴリズムを組み合わせることで、広い波長範囲全体での高精度な動作が可能になります。
1 Msa/sのリアルタイム測定機能を装備したこの測定器は例えば自動製造テストシステム内のデジタル制御ループのような、不安定な変動する信号の解析や、偏波情報のリアルタイムフィードバックが必要な制御アプリケーションに適しています。
内蔵ユーザーインターフェースにより取得した測定データの包括的な解析が可能になるため、(N7781Cの前機種の)N7781Bで必要だった偏波ナビゲータソフトウェアの代わりになります。 プログラミングには新しいSCPIコマンドセットが使用され、測定器はVISAリソースとして扱われます。 この測定器はたった1ラックユニットの高さのコンパクトサイズで、LANおよびUSBインターフェースを装備しています。
N7788C
N7788Cはポラリメータと偏波コントローラを組み合わせることで、柔軟にラボが利用でき、またキーサイトの波長可変レーザー光源のシングル掃引アルゴリズムを用いて光コンポーネントやファイバの迅速なスペクトルDGD/PMDおよびPDL測定が可能になります。
N7788C 光コンポーネント・アナライザは、一台の測定器で偏波制御/解析機能を提供し、フレキシブルなラボの活用を実現します。 N7788Cは、特に波長可変レーザー光源と組み合わせて光コンポーネントがどのように信号のSOPを変化させるか測定するために使用します。 この測定では、独自のシングル掃引偏波依存メソッドを使用し、標準化されたジョーンズ・マトリクス固有値解析法(JME)の一般化に基づいてパラメータの偏波モード分散(PMD)もしくは差動グループ遅延(DGD)や偏波依存損失(PDL)が決定されます。
偏波依存損失/分散のスペクトル測定には、N7788Cと波長可変レーザー光源および新しいN7700ソフトウェアエンジンを組み合わせてご使用ください。 フォットニック・アプリケーション・スイートに含まれるLSエンジンは波長依存DGD/PMDの測定を現在サポートします。 このモードはN7700103C PMDとともにライセンスすることが可能です。
この測定で提供されるパラメータは以下の通りです:
N7788Cの一般的なポラリメータおよび偏波制御機能は、内蔵ユーザインタフェースによってサポートされます。
この測定器は、たった1ラックユニットの高さのコンパクトサイズで、LANおよびUSBインタフェースを装備しています。
N7786C
キーサイトN7786Cは、高速リチウムニオブ酸ベースの偏波コントローラーで、内蔵ポラリメーターにより、選択された出力偏波状態のシーケンスを設定および安定化するためのモニタリングとフィードバックを提供します。
キーサイト・テクノロジー N7786Cは、高速なニオブ酸リチウムベースの偏波コントローラと、出力信号を監視しコントローラにフィードバックを提供する偏波アナライザを内蔵しています。このユニットは、いくつかのモードで動作できます。
N7786Cの多くのアプリケーションは、内蔵ユーザーインターフェースによってサポートされています。プログラミングには新しいSCPIコマンドセットを使用し、本器はVISAリソースとしてアドレス指定されます。
本器は、LANおよびUSBインターフェースを備え、わずか1Uのコンパクトなフォームファクターです。
厳選されたサポートプランと、優先的な対応および迅速なターンアラウンドタイムにより、迅速なイノベーションを実現します。
予測可能なリースベースのサブスクリプションとフルライフサイクル管理ソリューションにより、ビジネス目標をより迅速に達成できます。
KeysightCareのサブスクライバーとして、コミットされた技術サポートなど、より質の高いサービスをご体験ください。
テストシステムが仕様どおりに動作し、ローカルおよびグローバルな標準に準拠していることを保証します。
社内での講師主導トレーニングやeラーニングにより、迅速に測定を実施できます。
キーサイトのソフトウェアをダウンロードするか、最新バージョンにアップデートしてください。
光偏波および分散テストは、光波が光ファイバーやコンポーネントを伝播する際の挙動を測定します。これらのパラメータ(偏波状態 (SOP)、偏波依存損失 (PDL)、偏波モード分散 (PMD))は、高速光ネットワークにおける信号完全性に大きく影響を与える可能性があります。キーサイトのソリューションは、コヒーレント伝送やDWDMネットワークなどの次世代通信システムで高い性能を確保するために、リアルタイムの偏波合成、スクランブル、および分散測定を提供します。
キーサイトは、光コンポーネントおよびシステム特性評価における特定の役割のために設計された、数種類の光偏波および分散試験計測器を提供しています。
偏光計
この測定器は、包括的な偏波依存損失(PDL)および偏波モード分散(PMD)測定を実行します。これは、コンポーネント特性評価とシステム検証に不可欠であり、コヒーレント伝送システム、DWDMネットワーク、AIデータセンターインターコネクトにおける偏波劣化の影響をエンジニアが検証するのに役立ちます。
偏波シンセサイザ
偏波シンセサイザーは、偏波状態(SOP)の正確で高速な制御を提供します。これは、変調器、ファイバーリンク、フォトニック部品などのデバイスが特定の偏波条件下でどのように動作するかをテストするために使用されます。アライメント、校正、マージンテストのための再現性のあるSOP生成をサポートします。
偏波アナライザ
偏波アナライザは、SOPをリアルタイムで測定および監視し、動的な偏波挙動解析を可能にします。高速サンプリングにより、研究および製造環境の両方で、SOPトラッキング、コンポーネント性能評価、トラブルシューティングに最適です。
同期スクランブラおよび偏波安定化装置
この機器は、ループ同期スクランブリングと高速SOPスイッチング(最大100 krad/s)を可能にし、ネットワークエミュレーションやクローズドループストレス試験に不可欠です。安定化機能は、長期ドリフト試験や制御された実験において一定のSOPを保証します。
各タイプは、特性評価、アライメント、検証、またはエミュレーションのニーズに応じて、完全な光テストソリューションを構築する上で独自の役割を果たします。
偏波および分散測定器は、光コンポーネントおよびシステム開発ワークフロー全体で使用されます。
光偏波・分散コントローラは、変調器、光ファイバーリンク、フォトニック集積回路、コヒーレントレシーバーを含むセットアップにおいて不可欠です。
選択は、お客様の特定のテスト目的に応じて異なります。