光学偏光および分散製品

偏波と分散の課題を管理するための包括的なツール

キーサイト XP6-class 光偏波・分散測定器は、包括的な制御および解析機能を提供します。これらは、高速リアルタイム偏波合成、解析、スクランブル、および偏波依存損失と分散の測定を提供し、光コンポーネントおよびサブシステムの高性能特性評価と検証のための主要な指標となります。これらの測定器は、干渉計、偏波アライメント、コンポーネント特性評価、および伝送システムテストに特化しています。必要な機能と入力パワー範囲に基づいて、必要な光偏波・分散測定器を選択してください。当社の人気のある構成のいずれかを選択するか、お客様のアプリケーションに特化した構成を構築してください。

偏波制御

ファイバー、変調器、フォトニック部品の精密なテストのために、完全な偏波状態制御を実現します。

高速スイッチング

最大1 MSa/sのサンプリングと最大100 krad/sの偏波状態(SOP)スイッチング速度で、急速に変化する偏波効果を捕捉し、ダイナミック解析を実現します。

同期スクランブリング

タイミング精度と挙動再現性を備えた、ループベースのネットワークストレステスト向け電気的に同期されたSOP変更。

コンパクトで一体型

各測定器は、複数の機能(スクランブラー/スタビライザー、偏光計/コントローラー)を統合することで、より少ない台数でより多くの機能を提供します。

製品画像
  • Functionality

    Polarization synthesizer, Polarization analyzer, Synchronous scrambler, Polarimeter

  • Input power range

    -38 dBm to +19 dBm, -50 dBm to +7 dBm, < +20 dBm

  • Wavelength range

    1240 nm to 1650 nm

  • Insertion loss

    4.0 dB ~ 5.0 dB

  • State of polarization uncertainty

    1.5° ~ 2

よくあるご質問