Webinar
I test di scalabilità e il debug con un numero maggiore di canali non dovrebbero comportare compromissioni dell'integrità del segnale né l'occupazione di prezioso spazio nel rack. In questo webinar, scoprite il nuovo oscilloscopio Keysight Essential XR3 e vedete come aiuta gli ingegneri a passare da decine a centinaia di segnali analogici sincronizzati.
Questa sessione ricca di dimostrazioni illustra come sincronizzare più oscilloscopi, rilevare ondulazioni dell’ordine dei millivolt grazie a un convertitore analogico-digitale (ADC) a 14 bit e a un basso rumore di fondo, abbinare l’XR3 all’oscilloscopio Pro XR8 per ottenere una soluzione completa per il test di segnali a bassa e alta velocità, e integrare l’XR3 in sistemi di test compatti, automatizzati e montati su rack.
Ideale per ingegneri addetti ai test e al debug, tecnici, ingegneri di validazione dei sistemi e ricercatori che operano nei settori aerospaziale e della difesa, dei test di produzione, della fisica avanzata o della validazione dei semiconduttori. Questa sessione è particolarmente utile per i team che stanno implementando misurazioni sincronizzate con un elevato numero di canali in sistemi di test basati su rack o automatizzati.
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