Comment accélérer les tests courts pour les nœuds à haute impédance ?

Testeur en circuit i3070 Series 7i
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Test de nœuds à haute impédance à l'aide d'un algorithme de test court amélioré

Pour tester la présence de courts-circuits électriques sur les cartes de circuits imprimés (PCBA), il faut mesurer la résistance entre les nœuds isolés. Cette méthode consiste à injecter un petit courant dans le circuit et à vérifier l'impédance résultante entre les nœuds. Toutefois, les tests de court-circuit pour les nœuds à haute impédance nécessitent une méthode de mesure beaucoup plus précise pour détecter les changements d'impédance les plus infimes.

Les tests courts des nœuds à haute impédance nécessitent un temps prolongé pour stabiliser la tension ou le courant afin d'obtenir une lecture précise. En raison de la sensibilité accrue du nœud, le maintien de la stabilité du signal et la minimisation des influences externes sont des aspects cruciaux du processus de test. La durée prolongée des tests courts pour les nœuds à haute impédance n'est pas compatible avec la fabrication en grande série.

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Solution améliorée pour les essais courts

Le test des nœuds à haute impédance pour détecter un court-circuit électrique nécessite un temps plus long pour stabiliser la tension ou le courant afin d'obtenir une lecture précise. Le système Keysight i3070 High-Density In-Circuit Test (ICT) dispose d'un algorithme de test de court-circuit électrique amélioré qui améliore considérablement la durée du test. Un cycle de test plus efficace est obtenu en réduisant considérablement le nombre d'itérations nécessaires pour identifier les courts-circuits dans les nœuds à haute impédance. Cette avancée permet de réduire la durée des tests sans en compromettre l'intégrité. Cet algorithme de test amélioré comprend deux phases : la phase de détection et la phase d'isolation. Le nouvel algorithme a permis d'améliorer le débit de 30 à 50 % lors des tests en laboratoire.

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