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Mediciones IV versátiles para la caracterización de dispositivos semiconductores
Los analizadores de corriente-voltaje de Keysight ofrecen capacidades precisas de fuente y medición de bajo ruido, esenciales para la caracterización de dispositivos semiconductores y la investigación de materiales. Diseñados para manejar una amplia gama de niveles de corriente y voltaje —desde corrientes de femtoamperios hasta barridos de alto voltaje—, estos analizadores proporcionan mediciones precisas y repetibles en diversas aplicaciones. Con configuraciones multicanal flexibles y un control de software intuitivo, los analizadores IV de Keysight ayudan a acelerar el desarrollo de dispositivos, las pruebas de fiabilidad y la optimización de procesos. Solicite hoy mismo un presupuesto para una de nuestras configuraciones populares. ¿Necesita ayuda para seleccionar? Consulte los recursos a continuación.
Amplio rango de fuentes/medidas
Admite la caracterización IV precisa en una amplia variedad de dispositivos, incluidos materiales avanzados, componentes analógicos y estructuras de baja fuga.
Arquitectura de sistema modular
Realice fácilmente caracterizaciones de un solo dispositivo o multiterminales, ideal para aplicaciones que van desde la investigación inicial hasta las pruebas de calidad de producción.
Capacidad IV pulsada y transitoria
Capture el comportamiento rápido del dispositivo y minimice el calentamiento automático utilizando funciones de pulsación integradas con una resolución inferior al milisegundo y una rápida adquisición de mediciones.
Interfaz de usuario intuitiva para un control eficiente
El software EasyEXPERT agiliza la configuración y el análisis de las pruebas con plantillas de medición preconfiguradas, gráficos en tiempo real y funciones de comparación de datos.
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Maximum output current
1 A
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Maximum output voltage
200 V
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Minimum current measurement resolution
0.1 fA to 5 pA
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Minimum voltage measurement resolution
0.5 µV to 100 µV
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Number of channels
Up to 8
Las configuraciones más populares
Analizador IV / Ordenador central de medición de precisión de 8 ranuras
Analizador IV de precisión / Unidad central de medición de precisión de 8 ranuras
- Medición de la resistencia de la lámina / resistividad
- Cómo evaluar las características de corriente-tensión
Servicios y asistencia
Innovar rápidamente con planes de asistencia personalizados y tiempos de respuesta y resolución priorizados.
Obtenga suscripciones predecibles basadas en arrendamiento y soluciones completas de gestión del ciclo de vida, para que pueda alcanzar sus objetivos empresariales más rápidamente.
Disfrute de un servicio superior como suscriptor de KeysightCare y obtenga una respuesta técnica comprometida y mucho más.
Asegúrese de que su sistema de pruebas funcione según las especificaciones y cumpla con las normas locales y globales.
Realice mediciones rápidamente con formación interna impartida por instructores y aprendizaje electrónico.
Descargue el software de Keysight o actualice su software a la versión más reciente.
Preguntas más frecuentes
Un analizador de corriente-tensión (IV) es un instrumento de precisión diseñado para caracterizar el comportamiento eléctrico de los dispositivos semiconductores mediante el suministro y la medición de corriente y tensión en los terminales del dispositivo. Normalmente consta de varias unidades de medición de fuente (SMU) que pueden suministrar tensión o corriente mientras miden simultáneamente el otro parámetro. Estos analizadores ofrecen alta resolución, bajo ruido y un amplio rango dinámico, características fundamentales para extraer parámetros precisos del dispositivo, como la tensión umbral (Vth), la relación de corriente de encendido/apagado, la corriente de fuga, la pendiente subumbral, la resistencia, la tensión de ruptura y la corriente de saturación. Los analizadores IV son indispensables para el desarrollo de procesos, el modelado de dispositivos, el análisis de fallos y las pruebas de fiabilidad, ya que permiten a los ingenieros comprender cómo funciona un dispositivo bajo diversas tensiones eléctricas. También son esenciales en entornos de investigación en los que los nuevos materiales o arquitecturas de dispositivos (por ejemplo, semiconductores orgánicos, materiales 2D o FinFET) requieren una sonda eléctrica ajustada con precisión.
Los analizadores de corriente-tensión son muy versátiles y se pueden utilizar para probar una amplia gama de componentes y materiales semiconductores. Esto incluye dispositivos tradicionales como diodos, BJT, MOSFET y JFET; dispositivos de potencia como IGBT, SiC y transistores basados en GaN; y dispositivos emergentes como transistores de película delgada (TFT), FET orgánicos (OFET) y memristores. Los analizadores IV también son muy adecuados para evaluar componentes pasivos como resistencias y condensadores, células fotovoltaicas e interfaces de sensores. Su capacidad para realizar mediciones de baja corriente hasta el rango de femtoamperios permite una caracterización precisa de los materiales aislantes y los nodos de alta impedancia, mientras que la compatibilidad con barridos de tensión de hasta cientos de voltios permite realizar análisis de averías y pruebas de estrés de alta tensión. Las estructuras multiterminales, incluidos los dispositivos SOI, las pilas de puertas de alta constante dieléctrica y los FET multipuerta, se benefician de las configuraciones multicanal de los analizadores, que proporcionan mediciones sincronizadas en múltiples terminales.
Los analizadores IV multicanal mejoran significativamente la flexibilidad, el paralelismo y la cobertura de las pruebas para estructuras complejas o con múltiples dispositivos. Cada canal, normalmente alimentado por una SMU de precisión, puede funcionar de forma independiente o en sincronización con otros para generar o medir señales en terminales específicos. Esta capacidad es crucial para dispositivos como MOSFET (puerta, drenaje, fuente, bulk), FinFET o estructuras de chips apilados, en los que es esencial medir la interacción entre terminales en diferentes condiciones de polarización. Las configuraciones multicanal también agilizan las pruebas de matrices de componentes, obleas con cientos de sitios de prueba o sistemas con matrices de conmutación en chip. El acoplamiento de canales, la sincronización de fuente/monitor y las capacidades avanzadas de disparo permiten la evaluación en tiempo real del comportamiento de los dispositivos en múltiples nodos, lo que ayuda a reducir el tiempo de medición y mejora la precisión y la repetibilidad. Además, el software de secuenciación de pruebas mejora la automatización y permite reutilizar los planes de prueba en diferentes dispositivos u obleas.
Las mediciones IV pulsadas se utilizan para capturar las características eléctricas precisas de los dispositivos semiconductores, al tiempo que se mitigan los efectos térmicos y de captura de carga que pueden producirse durante las pruebas continuas (CC). Mediante la aplicación de pulsos de tensión o corriente de corta duración, normalmente en el rango de microsegundos a milisegundos, los ingenieros pueden minimizar el autocalentamiento, que es especialmente problemático en dispositivos de potencia como los transistores SiC y GaN o las estructuras verticales. Las mediciones pulsadas también son esenciales a la hora de evaluar la integridad dieléctrica, los cambios de umbral o los fenómenos transitorios, como la histéresis y los efectos de captura en materiales avanzados. En una implementación típica, una SMU rápida o una unidad de medición pulsada dedicada aplica una forma de onda mientras registra simultáneamente la respuesta. Los analizadores IV diseñados para el funcionamiento pulsado ofrecen una resolución de tiempo precisa (submilisegundos), una recuperación rápida y tiempos de estabilización bajos. Estas características permiten a los ingenieros crear perfiles de pulso personalizados (por ejemplo, pulso y retención, doble pulso) y extraer el comportamiento dinámico en condiciones de conmutación realistas, lo cual es fundamental para validar aplicaciones de alta velocidad o alto voltaje.
Al elegir un analizador IV, los ingenieros deben evaluar cuidadosamente varios parámetros clave de rendimiento para que se ajusten a los requisitos de su aplicación. Entre ellos se incluyen:
- Rango de corriente y tensión: determine si el sistema puede satisfacer todos los requisitos de suministro y medición de sus dispositivos, desde fugas de subpicoamperios hasta corrientes de accionamiento de nivel de amperios, y desde sensibilidades de milivoltios hasta tensiones de ruptura de kilovoltios.
- Resolución y precisión de medición: los ADC de alta resolución, el bajo ruido de entrada y el suministro estable son esenciales para caracterizar características eléctricas precisas, como la fuga por debajo del umbral o el efecto túnel de la puerta.
- Velocidad y tiempo de estabilización: la rápida capacidad de medición y los bajos tiempos de estabilización ayudan a reducir el tiempo total de prueba, especialmente en configuraciones automatizadas o entornos de pruebas a nivel de oblea.
- Número de canales SMU: Las aplicaciones que implican estructuras multiterminales o dispositivos en matriz se benefician de un mayor número de canales y configuraciones flexibles.
- Integración de software: La disponibilidad de software de pruebas gráficas, API de scripting y compatibilidad con probadores de obleas o matrices de conmutación es fundamental para automatizar grandes conjuntos de pruebas y generar resultados repetibles y trazables.
- Formato y expansión: considere si el sistema admite modularidad y futuras actualizaciones para añadir canales, unidades pulsadas o módulos de alta tensión sin necesidad de sustituirlo por completo.