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Pruebas en el aire de antenas phased array
Escuche a Brian Goldstein, de Analog Devices (ADI), y a Vince Nguyen, de Keysight Technologies, hablar de la colaboración de sus empresas, que redujo significativamente de horas a segundos las pruebas de los circuitos integrados formadores de haces de matriz en fase (BFIC).