Soluciones de pruebas paramétricas Pulsed-IV

Esta guía de selección de Pulsed-IV ofrece una descripción general y una comparación detallada de todos los productos de Keysight para determinar la mejor solución que se adapte a sus necesidades específicas.

Sistema de pruebas paramétricas paralelas PX9002A

Este folleto proporciona información sobre el hardware, el software y los servicios del sistema de pruebas paramétricas paralelas PX9002A, una solución integral para fabricantes de semiconductores.

B1542A Solución de prueba paramétrica IV pulsada de diez nanosegundos

Esta nota muestra un resumen de la solución IV de pulso ultracorto del analizador de dispositivos semiconductores B1500A.

Laboratorio de enseñanza de pruebas paramétricas y mediciones en oblea

Solución de laboratorio de enseñanza de semiconductores para pruebas paramétricas y mediciones en oblea.

Sistema de prueba de obleas de alto voltaje 4881HV

El sistema de pruebas de agua de alto voltaje 4881HV permite realizar el control del proceso y las pruebas de aceptación de obleas en la fabricación hasta 3 kV para cumplir con los requisitos futuros de aplicaciones como la automoción.

Componentes electrónicos Evaluación de semiconductores/transistores

Semicon

Analizadores de IV de precisión E5260A/E5262A/E5263A/E5270B

Esta descripción técnica general presenta cómo evaluar las características de precisión de corriente-voltaje utilizando la serie de analizadores IV de precisión E5260A/E5262A/E5263A/E5270B.

Ampliación de los centros de datos de IA

Scaling AI Data Centers explica por qué la computación a escala de IA impulsa cada parte del centro de datos y por qué eliminar una restricción a menudo expone la siguiente. Presenta un marco de chip a clúster que abarca el diseño previo al silicio, las obleas, los chips y chiplets, las placas, los servidores, los racks, los centros de datos completos y las implementaciones periféricas. El documento posiciona la ventaja estratégica de Keysight Technologies como amplitud más correlación: predecir el comportamiento del sistema antes de que exista el hardware, mapear los márgenes físicos en la capa de obleas y fotónica, y luego validar las interconexiones y las cargas de trabajo en condiciones similares a las de producción. En toda la pila, destaca áreas de solución como la automatización del diseño electrónico para la interconexión de chiplets y el diseño fotónico, las pruebas automatizadas de obleas de silicio y fotónicas de silicio, la validación post-silicio para estándares de matriz a matriz como UCIe, y la depuración de señales a nivel de placa, integridad de la alimentación e interferencias electromagnéticas. A continuación, pasa a la validación de servidores y racks con análisis de protocolos, flujos de trabajo de transceptores Ethernet 800G y 1,6T, generación de tráfico a gran escala para patrones de entrenamiento e inferencia, y validación del transporte Ethernet para RoCEv2 y Ultra Ethernet. A escala de centro de datos y periferia, añade emulación, pruebas de seguridad y rendimiento, análisis de transporte óptico coherente, visibilidad de la red y validación inalámbrica y AI-RAN. Concluye que los retos multicapa exigen conocimientos especializados a varios niveles, combinando conocimientos basados en la física con el contexto del sistema para ayudar a los equipos a mantenerse con confianza varias generaciones por delante.

Solución de referencia para pruebas paramétricas DDR4

La solución de referencia para pruebas paramétricas DDR4 ayuda a los ingenieros a probar, depurar y caracterizar sus diseños DDR4.

Solución de referencia para pruebas paramétricas DDR4

Aprenda a configurar su solución para la prueba paramétrica DDR4.

Ampliación de la infraestructura de IA desde chips hasta clústeres

Póster sobre la ampliación de los centros de datos de IA que explica por qué la computación a escala de IA impulsa todas las partes del centro de datos y por qué eliminar una limitación a menudo expone la siguiente. Presenta un marco de chip a clúster que abarca el diseño previo al silicio, las obleas, los chips y chiplets, las placas, los servidores, los racks, los centros de datos completos y las implementaciones periféricas. El documento posiciona la ventaja estratégica de Keysight Technologies como amplitud más correlación: predecir el comportamiento del sistema antes de que exista el hardware, mapear los márgenes físicos en la capa de obleas y fotónica, y luego validar las interconexiones y las cargas de trabajo en condiciones similares a las de producción. En toda la pila, destaca áreas de solución como la automatización del diseño electrónico para la interconexión de chiplets y el diseño fotónico, las pruebas automatizadas de obleas de silicio y fotónicas de silicio, la validación post-silicio para estándares de matriz a matriz como UCIe, y la depuración de señales a nivel de placa, integridad de la alimentación e interferencias electromagnéticas. A continuación, pasa a la validación de servidores y racks con análisis de protocolos, flujos de trabajo de transceptores Ethernet 800G y 1,6T, generación de tráfico a gran escala para patrones de entrenamiento e inferencia, y validación del transporte Ethernet para RoCEv2 y Ultra Ethernet. A escala de centro de datos y periferia, añade emulación, pruebas de seguridad y rendimiento, análisis de transporte óptico coherente, visibilidad de la red y validación inalámbrica y AI-RAN. Concluye que los retos multicapa exigen conocimientos especializados a varios niveles, combinando conocimientos basados en la física con el contexto del sistema para ayudar a los equipos a mantenerse con confianza varias generaciones por delante.

Retos y soluciones para aplicaciones de ensayos en ciencia e ingeniería de materiales

Esta descripción técnica presenta las soluciones de Keysight para aplicaciones de ensayo en el ámbito de la ciencia de los materiales y la ingeniería.

Medición sencilla de corriente continua pulsada de alta potencia mediante el módulo HV-SPGU del Keysight B1500A

Esta descripción técnica muestra lo sencillo que resulta realizar mediciones de corriente continua de alta potencia utilizando el módulo HV-SPGU del Keysight B1500A.

Analizador de dispositivos semiconductores B1500A

En esta descripción técnica se explica el uso del B1500A para realizar mediciones IV pulsadas mediante el MCSMU pulsado de 50 µs del B1500.

Solución de referencia para sistemas de pruebas de interconexión digital

Este resumen de la solución destaca las características y ventajas de la solución de referencia del sistema de pruebas de interconexión digital.

Soluciones de pruebas O-RAN de Keysight

La tecnología Open RAN ayuda a evitar la dependencia de un único proveedor y ofrece múltiples ventajas, pero no está exenta de retos. Descubre nuestras soluciones de pruebas O-RAN para una validación avanzada.

Solución para laboratorio de enseñanza de semiconductores: Prueba paramétrica y medición en oblea

La solución para la enseñanza de semiconductores UU102LAB: Prueba paramétrica y medición en oblea es una plataforma completa y lista para la enseñanza de la educación en semiconductores. Esta solución proporciona experiencia práctica con la caracterización de dispositivos, la medición de baja corriente, el análisis C-V y la sonda en oblea utilizando el analizador de parámetros B1500A de Keysight, DUT, estación de sonda y ejercicios de laboratorio estructurados.

Pruebas de capa de aplicación para su solución de pruebas de dispositivos 5G

La tecnología 5G plantea nuevos retos para los equipos de control de calidad (QA), ya que la complejidad del 5G requiere pruebas exhaustivas para garantizar su solidez y funcionalidad. Para probar exhaustivamente los dispositivos 5G, es necesario identificar posibles problemas y probar las aplicaciones en diversos escenarios y casos de uso. Para hacer frente a estos retos, Keysight ofrece la plataforma de pruebas inalámbricas UXM 5G, que está integrada con el software de inteligencia de pruebas y automatización de Eggplant. Esta solución permite realizar pruebas en la capa de aplicación, lo que proporciona una solución 5G completa para probar la experiencia del usuario en paralelo con las pruebas de RF y funcionales.

Solución rápida de pruebas de calibración y caracterización para antenas phased array

La solución de pruebas de control y calibración de antenas de matriz en fase de Keysight ofrece un sistema de medición práctico y flexible que permite realizar una amplia variedad de pruebas de verificación del rendimiento de las antenas de matriz en fase. Estas pruebas incluyen la calibración rápida de ganancia y fase, la potencia isotrópica radiada efectiva (EIRP), el diagrama de radiación de la antena, la relación ganancia-temperatura de ruido (G/T) de la antena, la distorsión de modulación (magnitud del vector de error [EVM] y relación de potencia del canal adyacente) y mediciones de radiofrecuencia a digital directo. La solución ofrece una interfaz de software completa y fácil de usar que integra y sincroniza el control digital de los instrumentos de prueba de alto rendimiento de Keysight.

ZA0118A Solución de prueba de componentes de alta frecuencia

Este resumen de la solución presenta la solución de prueba de componentes de alta frecuencia ZA0118A, sus principales funciones y especificaciones.