Soluciones de pruebas paramétricas Pulsed-IV

Esta guía de selección de Pulsed-IV ofrece una descripción general y una comparación detallada de todos los productos de Keysight para determinar la mejor solución que se adapte a sus necesidades específicas.

B1542A Solución de prueba paramétrica IV pulsada de diez nanosegundos

Esta nota muestra un resumen de la solución IV de pulso ultracorto del analizador de dispositivos semiconductores B1500A.

Sistema de pruebas paramétricas paralelas PX9002A

Este folleto proporciona información sobre el hardware, el software y los servicios del sistema de pruebas paramétricas paralelas PX9002A, una solución integral para fabricantes de semiconductores.

Solución de referencia para pruebas paramétricas DDR4

La solución de referencia para pruebas paramétricas DDR4 ayuda a los ingenieros a probar, depurar y caracterizar sus diseños DDR4.

Solución de referencia para pruebas paramétricas DDR4

Aprenda a configurar su solución para la prueba paramétrica DDR4.

Solución de medición paramétrica

En este QFS se destacan las características principales y la información para realizar pedidos de la solución de medición paramétrica, compuesta por la SMU U2722A/U2723A, el U2941A y el software PMM Pro U2942A.

Solución para laboratorio de enseñanza de semiconductores: Prueba paramétrica y medición en oblea

La solución para la enseñanza de semiconductores UU102LAB: Prueba paramétrica y medición en oblea es una plataforma completa y lista para la enseñanza de la educación en semiconductores. Esta solución proporciona experiencia práctica con la caracterización de dispositivos, la medición de baja corriente, el análisis C-V y la sonda en oblea utilizando el analizador de parámetros B1500A de Keysight, DUT, estación de sonda y ejercicios de laboratorio estructurados.

Prueba paramétrica de alta velocidad con probadores paramétricos

Aprenda algunas técnicas nuevas para realizar pruebas paramétricas de alta velocidad con la serie de pruebas paramétricas Keysight 4080.

Laboratorio de enseñanza de pruebas paramétricas y mediciones en oblea

Solución de laboratorio de enseñanza de semiconductores para pruebas paramétricas y mediciones en oblea.

U2941A: Dispositivo de ensayo paramétrico

Se trata de una ficha técnica de 5 páginas correspondiente al dispositivo de pruebas paramétricas U2941A.

Sistema de pruebas paramétricas paralelas P9002A

Este folleto proporciona información sobre el hardware, el software y los servicios del sistema de pruebas paramétricas paralelas P9002A, una solución integral para fabricantes de semiconductores.

Sistema de prueba paramétrica para pruebas de memoria flash NAND

La capacidad de salida de ±40 V del sistema de pruebas paramétricas 4082F y los HV-SPGU proporcionan potentes soluciones de prueba para la caracterización de celdas de memoria flash NAND.

P9001A Sistema de pruebas paramétricas masivamente paralelo

El sistema de pruebas paramétricas masivamente paralelo P9001A de Keysight es un modelo insignia para las líneas de producción de obleas con tecnología de vanguardia. Como solución integral para hardware, software y servicios, en este folleto encontrará todos los elementos del P9001A.

Manual de medición paramétrica - Edición 5

La 5ª edición del Manual de medidas paramétricas de Keysight es una referencia completa de medidas paramétricas, con información útil tanto para usuarios principiantes como avanzados.

Prueba de parámetros a 110 GHz

El analizador de componentes de fibra óptica Keysight N4372E ofrece un ancho de banda de 110 GHz y es compatible con todo el rango de longitudes de onda de 1260 nm a 1620 nm, tanto para pruebas de transmisores ópticos como de receptores ópticos, gracias a un transmisor calibrado y trazable según el Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST).

Comprobadores paramétricos de la serie 4080

Este folleto proporciona información sobre hardware, software y servicios para el sistema de pruebas paramétricas de la serie 4080, una solución total para pruebas de alto rendimiento.

Retos y soluciones para aplicaciones de ensayos en ciencia e ingeniería de materiales

Esta descripción técnica presenta las soluciones de Keysight para aplicaciones de ensayo en el ámbito de la ciencia de los materiales y la ingeniería.

Serie 4080 de comprobadores paramétricos

Este folleto detalla las características y ventajas de la serie 4080 de comprobadores paramétricos de Keysight. También destaca nuestra ventaja competitiva en la comprobación de dispositivos de última generación.

N9100AU: Actualización de la prueba paramétrica 4080 a partir del modelo 4070

Esta documentación corresponde al producto de actualización de pruebas paramétricas del Keysight 4080 a partir del modelo 4070, N9100AU.

Tecnologías de medición de baja corriente en el sistema de pruebas paramétricas 4080

Esta descripción técnica general explica cómo los sistemas de pruebas paramétricas de la serie 4080 logran un rendimiento de medición de corriente ultrabajo y un alto rendimiento.