Webinar

製造複雜化時代：驗證技術演進的關鍵挑戰

Veranstaltungen Thought Leadership IC- und Halbleiterfertigung HF-Testinstrumente

October 4, 2023

Datum

10:00 - 12:30 UHR PT

Zeit

2 Stunden

Dauer

Virtuell

Standort

Jetzt registrieren

Über diese Veranstaltung

Von Keysight erstellt, von Jason Kary主講的研討會,共同探討製造驗證的演變.

您將了解到晶圓級和電路內測試策略如何提高覆蓋率、更早發現缺陷, 並在不影響品質的前提下, 實現一致的大規模量產.

Wer sollte an dieser Veranstaltung teilnehmen?

半導體和電子製造工程師 & 專注於測試覆蓋率、良率提升和大量生產驗證的團隊.

October 4, 2023

Datum

10:00AM PT

Zeit

90

Dauer

Virtuell

Standort

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