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Rilevamento affidabile dei difetti in-circuit nella produzione di circuiti stampati

I sistemi di test in-circuit Keysight offrono soluzioni scalabili e ad alte prestazioni per il collaudo di circuiti stampati complessi e densamente popolati nella produzione ad alto volume. Grazie a configurazioni dei pin flessibili, supporto boundary scan, funzionalità di test senza vettori e misurazioni analogiche programmabili, questi sistemi garantiscono un rilevamento rapido e accurato dei difetti di assemblaggio, quali difetti di saldatura, componenti orientati in modo errato e valori errati. La diagnostica integrata, gli strumenti intuitivi per lo sviluppo dei test e l'integrazione pronta per l'automazione semplificano i flussi di lavoro di produzione, riducendo al contempo i falsi allarmi e migliorando la resa al primo passaggio.Richiedete oggi stesso un preventivo per una delle nostre configurazioni più popolari. Avete bisogno di aiuto per la scelta? Consultate le risorse riportate di seguito.

 

 

Elevata copertura dei guasti

Rileva un'ampia gamma di difetti strutturali, quali interruzioni di saldature, cortocircuiti e posizionamento errato dei componenti, garantendo una migliore qualità del prodotto e una riduzione dei costi di rilavorazione.

Progettazione di pin di prova scalabili

Supporta schede ad alta densità con configurazioni flessibili del numero di pin, consentendo l'adattamento a schede di varie dimensioni e complessità senza modificare l'hardware.

Funzioni di analisi integrate

Fornisce metriche di test in tempo reale, analisi approfondite dei dati e report automatizzati direttamente sul tester. Consente un'analisi più rapida delle cause alla radice, migliora la produttività su schede complesse e supporta una scalabilità senza soluzione di continuità verso analisi di livello aziendale.

Scansione integrata dei confini 

Esegue diagnosi strutturali attraverso porte di accesso standard (TAP), eliminando la necessità di sondaggi invasivi o strumentazione hardware aggiuntiva. 

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  • System width

    800 mm to 1800 mm

  • Maximum node count

    0 to 5760

  • Maximum parallel testing

    2 to 112

  • Fixture actuation

    Vacuum, Press down

Domande frequenti