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Acceleratore di misura PXIe

L'acceleratore di misura PXIe M9451A è un modulo di accelerazione di misura "chiuso" fornito in bundle con l'opzione DPD Gateware per eseguire test DPD/ET molto veloci come parte di una soluzione di riferimento avanzata per la caratterizzazione e il test di PA/FEM RF.

immagine_prodotto

  • Generator/analyzer bandwidth

    N/A

  • Module type

    Measurement Accelerator

  • Slots

    1

  • Maximum frequency

    N/A

  • Type

    System Module

  • Form factor

    PXIe Module

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Punti salienti

  • L'accelerazione hardware offre un miglioramento della velocità DPD/ET di 20 volte rispetto alla soluzione di riferimento Keysight per la caratterizzazione e il test RF PA/FEM basata su host.
  • Closed/open loop digital pre-distortion (DPD) and envelope tracking (ET) measurements can be made in tens of milliseconds. Reduce overall test time to < 70 ms
  • Algoritmi DPD/ET affidabili basati su anni di stretta collaborazione con i principali clienti wireless
  • Connettività peer-to-peer con generatore di segnali vettoriali Keysight M9381A PXIe, analizzatore di segnali vettoriali M9391A PXIe e analizzatore di segnali vettoriali ad alte prestazioni M9393A PXIe
  • FPGA Altera Stratix V "A7" con memoria DDR3 da 4 GB

L'acceleratore di misura PXIe M9451A, combinato con l'opzione DPD Digital Pre-Distortion & Envelope Tracking Gateware, mostra cosa è possibile ottenere quando si combinano FPGA all'avanguardia con la comprovata esperienza di Keysight nel campo delle misure e l'elevata velocità di elaborazione dei dati di PXIe. Come parte della soluzione di riferimento Keysight per la caratterizzazione e il test di RF PA/FEM, questa combinazione offre prestazioni senza precedenti per le misurazioni di envelope tracking e pre-distorsione digitale richieste per testare i moderni amplificatori di potenza (PA) e moduli front-end (FEM). L'accelerazione hardware offre un miglioramento della velocità superiore a 20 volte rispetto alla precedente soluzione di riferimento basata su host di Keysight, con misurazioni di pre-distorsione digitale (DPD) a ciclo chiuso/aperto e tracciamento dell'inviluppo (ET) che richiedono solo poche decine di millisecondi e tempi di misurazione complessivi inferiori a 70 ms.

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