Système ICT haute densité en ligne ; série 7i

Le système de test en circuit (ICT) haute densité en ligne E9988GL Keysight i3070 série 7i intègre les technologies ICT à votre chaîne de fabrication automatisée.

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  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    5760

  • System width

    800 mm

  • Maximum parallel testing

    2

Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

Découvrez le système de test en ligne Keysight i3070 série 7i, la solution idéale pour bénéficier d'une couverture de test supérieure et d'un débit amélioré.

Dotée des dernières cartes à broches à quadruple densité, la série 7i peut accueillir jusqu'à 5 760 nœuds de test tout en conservant une largeur réduite de 800 mm. Cette capacité accrue fournit davantage de ressources pour les tests complexes et permet de traiter des panneaux plus grands tout en réduisant le temps de manipulation et de transfert des cartes.

Soyez tranquille, votre investissement est sécurisé, car la série 7i garantit une compatibilité totale avec les programmes de test et les équipements actuels E9988E et E9988EL.

  • Nœuds de test doubles : peut accueillir jusqu'à deux fois plus de nœuds de test tout en conservant un encombrement réduit.
  • Intègre le test des supercondensateurs : teste sans effort les supercondensateurs jusqu'à 100 Farads (F) grâce à une solution d'intégration disponible.
  • Permet la mesure de courants faibles : permet d'effectuer des mesures aussi faibles que 100 nanoampères (nA), ce qui réduit le temps de développement.
  • Accélère le test Shorts : exécute l'algorithme amélioré du test Shorts 50 % plus rapidement que les méthodes traditionnelles.
  • Améliore la couverture : améliore la couverture grâce à la génération automatique de tests de cluster.
  • Facilite l'extension : offre un port fonctionnel intégré pour étendre les capacités de test.
  • Surmonte les limitations d'accès : intègre l'analyseur de scan limite x1149 pour surmonter les restrictions d'accès aux tests.

Pour plus d'informations sur les systèmes TIC de Keysight, rendez-vous sur www.keysight.com/find/ict.