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EMI/EMC、相位噪声和物理层测试

EMI/EMC 解决方案

  • 是德为您提供 EMI 测量解决方案,包括预先一致性测量、EMC 故障诊断和完整的一致性测试
  • 相位噪声测量解决方案
  • 灵活地测试 VCO、DRO、晶体振荡器、合成器、放大器以及转换器,并测量连续波/脉冲和杂散信号
  • 信号源分析仪——提供世界上最高的吞吐率、对高频率信号源的 VCO 或其它类型进行表征的最佳可用性,以及对高速数据通信系统中的时钟抖动评估。

物理层测试系统

  • 基于矢量网络分析仪和时域反射计的系统能够应对高速数字设计中的信号完整性挑战

  • EMI 接收机和 EMC 预先一致性分析仪 EMI 接收机和 EMC 预先一致性分析仪 

    EMI 接收机和 EMC 预先一致性分析仪

    • 符合标准的 EMI 接收机可以执行完整的一致性测试(CISPR 16-1-1 2010 和 MIL-STD_461)
    • EMI 测量应用软件可以执行预先一致性测量和 EMC 诊断评测

  • 相位噪声测量系统 相位噪声测量系统 

    相位噪声测量系统

    相位噪声测量系统

  • N1930B 物理层测试系统(PLTS)2014 版软件 N1930B 物理层测试系统(PLTS)2014 版软件 

    N1930B 物理层测试系统(PLTS)2014 版软件

    N1947A、N1948A 和 N1951A 四端口测试系统需要使用 N1930B 物理层测试系统软件。

  • 为基于 VNA 的 PLTS 提供推荐电子校准件(ECal) 为基于 VNA 的 PLTS 提供推荐电子校准件(ECal) 

    为基于 VNA 的 PLTS 提供推荐电子校准件(ECal)

已停产的专用射频产品 [已停产]
天线测试、相位噪声和物理层测试系统 ,已停产的专用射频产品的产品信息和资源。