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ハイライト

  • 最大ノード数：2592
  • 最大チャネル数：576
  • フットプリント： 0.95 m x 0.94 m / 3.13’ x 3.08’
  • 最大モジュール数：2

お客様の製造ラインには高スループットが要求されます。 スループットを実現するためには、テスト効率、テストシステムの安定性、そしてシームレスな機器の統合が必要です。 キーサイトのi3070 シリーズ6ファミリーがまさにその要求にお応えします。 実績のある技術を基盤として構築されたシリーズ6ファミリーICTシステムが、これまで以上にテスト効率の向上を実現します。 実績のあるソフトウェア、ハードウェア、およびプログラム制御の備わったSeries 6は以前のシステムすべてとの互換性があり、非常に再現性の高い測定を行うことができます。

  • 最大で4倍速のバウンダリスキャン、シリコンネイル、ダイナミック・フラッシュ・プログラミングによりテスト効率を向上。
  • 以前の製品と 100% 互換可能にすることで、インストールのダウンタイムを最小限に抑え、完全なコード互換性を可能に
  • IPC-CFXやHermesなど規格に準拠したM2M機能により操作効率の向上、より深いテストデータの知見、応答時間の短縮、運用コストの削減を提供。
  • 業界最高のキーサイトのオンサイトサポートを今すぐご利用ください。 エキスパートが迅速、セキュアで、ハンズフリーなサポートを記録的な速さで提供します。
  • 最新のソフトウェアのライセンスを使用することで、ライセンス費用の明確化、ライセンス管理の一元化、生産要求に対応するためのスケーリングが可能になります。

主な仕様

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Fixture Actuation
Vacuum
最大ノード・カウント
2592
Max Parallel Testing
2
System Type
Offline System
System Width
954 mm
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E9905G 2 モジュール・インサーキット・テスト（ICT）システム、i327x Series 6｜キーサイト

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2 モジュール・インサーキット・テスト（ICT）システム、i327x Series 6の注目のリソース

Application Notes 2024.05.09

Integrating Standalone x1149 Boundary Scan Analyzer into i3070 Series 7i

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This application note presents an installation guide for integrating the x1149 boundary scan analyzer into the i3070 Series 7i In-Circuit Test (ICT) system, enabling efficient boundary scan testing alongside in-circuit testing.

2024.05.09

Application Notes 2024.05.07

Integrating LED Analyzer with Keysight's In-Circuit Tester

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This application note explores how to seamlessly integrate the FEASA F LED Analyzer with Keysight's i3070 Series 7i In-Circuit Test System to streamline LED testing processes.

2024.05.07

Application Notes 2024.01.30

Streamlining In-System Programming

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This application note explores the challenges and solutions in implementing In-System Programming (ISP) on densely populated circuit boards. Focusing on Keysight's advanced ICT system, the document discusses upgraded hardware configurations and introduces the ISP OpenTAP plug-in for streamlined test sequence generation. With a simplified approach to test generation and execution, Keysight's solution offers an efficient pathway for ISP integration. This resource serves as a practical guide for test engineers seeking to optimize ISP processes, enhance efficiency, and reduce complexities in programming.

2024.01.30

Application Notes 2024.01.30

Integrating x1149 Boundary Scan Analyzer for Enhanced Modularity and Versatility

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This application note explores the integration of Keysight's x1149 Boundary Scan Analyzer with the i3070 Series 7i In-Circuit Test System, introducing a flexible and efficient approach to boundary scan testing. The integration eliminates challenges associated with built-in boundary scan systems, offering enhanced security, modularity, and greater flexibility in adapting to evolving protocols and functionalities.

2024.01.30

Application Notes 2024.01.29

New i3070 Series 6 is 1.5x Faster than the Series 5

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This application note summarizes some of the results of Vectorless Test Enhanced Probe (VTEP) early tests conducted at customer sites.

2024.01.29

アプリケーションノート 2018.06.04

直接比較 ベクタレス テスト: NanoVTEP 対 VTEP | キーサイト

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現在では、集積回路(IC)とアクセス可能表面実装デバイス(SMD)コンポーネントがますます小型化しているので、PCBA内に実装できるようになっています。これによりスペースが縮小され、フィクスチャの密度が高まり、センサープレートと増幅器のスペースが限られるようになっています。

2018.06.04

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