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Misurazioni IV versatili per la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori
Gli analizzatori corrente-tensione Keysight offrono capacità di sourcing e misurazione accurate e a basso rumore, essenziali per la caratterizzazione di dispositivi a semiconduttore e la ricerca sui materiali. Progettati per gestire un'ampia gamma di livelli di corrente e tensione, dalle correnti in femtoampere alle sweep ad alta tensione, questi analizzatori forniscono misurazioni precise e ripetibili in diverse applicazioni. Con configurazioni multicanale flessibili e un controllo software intuitivo, gli analizzatori IV Keysight aiutano ad accelerare lo sviluppo dei dispositivi, i test di affidabilità e l'ottimizzazione dei processi. Richiedete un preventivo per una delle nostre configurazioni più popolari oggi stesso. Avete bisogno di aiuto per la selezione? Consultate le risorse qui sotto.
Ampia gamma di sorgenti/misurazioni
Supporta una caratterizzazione IV precisa su un'ampia gamma di dispositivi, inclusi materiali avanzati, componenti analogici e strutture a bassa dispersione.
Architettura modulare del sistema
Esegui facilmente la caratterizzazione di un singolo dispositivo o di più terminali, ideale per applicazioni che vanno dalla ricerca iniziale ai test di qualità della produzione.
Capacità IV pulsata e transitoria
Cattura il comportamento rapido del dispositivo riducendo al minimo l'autoriscaldamento grazie alle funzioni di pulsazione integrate con risoluzione inferiore al millisecondo e acquisizione rapida delle misurazioni.
Interfaccia utente intuitiva per un controllo efficiente
Il software EasyEXPERT semplifica la configurazione e l'analisi dei test grazie a modelli di misurazione preconfigurati, grafici in tempo reale e funzioni di confronto dei dati.
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Maximum output current
1 A
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Maximum output voltage
200 V
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Minimum current measurement resolution
0.1 fA to 5 pA
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Minimum voltage measurement resolution
0.5 µV to 100 µV
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Number of channels
Up to 8
Configurazioni più popolari
Analizzatore IV / Mainframe di misurazione di precisione a 8 slot
Analizzatore IV di precisione / Mainframe di misurazione di precisione a 8 slot
- Misurazione della resistenza/resistività del foglio
- Come valutare le caratteristiche corrente-tensione
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
Ottieni abbonamenti prevedibili basati su leasing e soluzioni complete per la gestione dell'intero ciclo di vita, in modo da raggiungere più rapidamente i tuoi obiettivi aziendali.
Beneficia di un servizio di alto livello come abbonato KeysightCare per ottenere assistenza tecnica dedicata e molto altro ancora.
Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
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Domande frequenti
Un analizzatore corrente-tensione (IV) è uno strumento di precisione progettato per caratterizzare il comportamento elettrico dei dispositivi a semiconduttori fornendo e misurando sia la corrente che la tensione attraverso i terminali del dispositivo. In genere è costituito da più unità di misura della sorgente (SMU) in grado di fornire tensione o corrente e misurare contemporaneamente l'altro parametro. Questi analizzatori offrono alta risoluzione, basso rumore e un'ampia gamma dinamica, caratteristiche fondamentali per estrarre parametri accurati del dispositivo quali tensione di soglia (Vth), rapporto corrente on/off, corrente di dispersione, pendenza sub-soglia, resistenza, tensione di rottura e corrente di saturazione. Gli analizzatori IV sono indispensabili per lo sviluppo dei processi, la modellazione dei dispositivi, l'analisi dei guasti e i test di affidabilità, consentendo agli ingegneri di comprendere come un dispositivo si comporta sotto varie sollecitazioni elettriche. Sono inoltre essenziali in contesti di ricerca in cui materiali o architetture di dispositivi innovativi (ad esempio semiconduttori organici, materiali 2D o FinFET) richiedono una sonda elettrica di precisione.
Gli analizzatori di corrente-tensione sono altamente versatili e possono essere utilizzati per testare un'ampia gamma di componenti e materiali semiconduttori. Ciò include dispositivi tradizionali come diodi, BJT, MOSFET e JFET; dispositivi di potenza come IGBT, SiC e transistor basati su GaN; e dispositivi emergenti come transistor a film sottile (TFT), FET organici (OFET) e memristor. Gli analizzatori IV sono anche adatti per valutare componenti passivi come resistori e condensatori, celle fotovoltaiche e interfacce sensoriali. La loro capacità di eseguire misurazioni a bassa corrente fino alla gamma dei femtoampere consente una caratterizzazione precisa dei materiali isolanti e dei nodi ad alta impedenza, mentre il supporto per sweep di tensione fino a centinaia di volt consente l'analisi dei guasti e i test di stress ad alta tensione. Le strutture multiterminale, inclusi i dispositivi SOI, gli stack di gate ad alto K e i FET multigate, traggono vantaggio dalle configurazioni multicanale degli analizzatori, che forniscono misurazioni sincronizzate su più terminali.
Gli analizzatori IV multicanale migliorano significativamente la flessibilità dei test, il parallelismo e la copertura dei test per strutture complesse o multi-dispositivo. Ogni canale, tipicamente alimentato da un SMU di precisione, può funzionare in modo indipendente o in sincronia con gli altri per generare o misurare segnali su terminali specifici. Questa capacità è fondamentale per dispositivi come MOSFET (gate, drain, source, bulk), FinFET o strutture a die impilati, dove è essenziale misurare l'interazione tra i terminali in diverse condizioni di polarizzazione. Le configurazioni multicanale semplificano anche il test di array di componenti, wafer con centinaia di siti di test o sistemi con matrici di commutazione su chip. L'accoppiamento dei canali, la sincronizzazione sorgente/monitor e le funzionalità di trigger avanzate consentono la valutazione in tempo reale del comportamento dei dispositivi su più nodi, contribuendo a ridurre i tempi di misurazione e migliorando al contempo la precisione e la ripetibilità. Inoltre, il software di sequenziamento dei test migliora l'automazione e supporta il riutilizzo dei piani di test su diversi dispositivi o wafer.
Le misurazioni IV pulsate vengono utilizzate per acquisire caratteristiche elettriche accurate dei dispositivi a semiconduttori, mitigando al contempo gli effetti termici e di intrappolamento della carica che possono verificarsi durante i test continui (CC). Applicando impulsi di tensione o corrente di breve durata, tipicamente nell'intervallo da microsecondi a millisecondi, gli ingegneri possono ridurre al minimo l'autoriscaldamento, particolarmente problematico nei dispositivi di potenza come i transistor SiC e GaN o le strutture verticali. Le misurazioni a impulsi sono essenziali anche per valutare l'integrità dielettrica, gli spostamenti di soglia o i fenomeni transitori come l'isteresi e gli effetti di intrappolamento nei materiali avanzati. In un'implementazione tipica, un SMU veloce o un'unità di misurazione a impulsi dedicata applica una forma d'onda registrando contemporaneamente la risposta. Gli analizzatori IV progettati per il funzionamento a impulsi offrono una risoluzione temporale precisa (inferiore al millisecondo), un recupero rapido e tempi di assestamento ridotti. Queste caratteristiche consentono agli ingegneri di creare profili di impulso personalizzati (ad esempio, impulso e mantenimento, doppio impulso) ed estrarre il comportamento dinamico in condizioni di commutazione realistiche, fondamentale per la convalida di applicazioni ad alta velocità o alta tensione.
Quando si sceglie un analizzatore IV, gli ingegneri devono valutare attentamente diversi parametri prestazionali chiave per soddisfare i requisiti della loro applicazione. Questi includono:
- Intervallo di corrente e tensione: determinare se il sistema è in grado di gestire tutti i requisiti di alimentazione e misurazione dei dispositivi, che vanno da perdite inferiori al picoampere a correnti di pilotaggio dell'ordine dell'ampere, e da sensibilità dell'ordine del millivolt a tensioni di rottura dell'ordine del kilovolt.
- Risoluzione e precisione di misurazione: ADC ad alta risoluzione, basso rumore di ingresso e alimentazione stabile sono essenziali per caratterizzare caratteristiche elettriche fini come la dispersione sub-soglia o il tunneling del gate.
- Velocità e tempo di assestamento: la rapidità delle misurazioni e i tempi di assestamento ridotti contribuiscono a ridurre la durata complessiva dei test, in particolare nelle configurazioni automatizzate o negli ambienti di test a livello di wafer.
- Numero di canali SMU: le applicazioni che prevedono strutture multiterminale o dispositivi disposti in array traggono vantaggio da un numero maggiore di canali e da configurazioni flessibili.
- Integrazione software: la disponibilità di software di test grafici, API di scripting e compatibilità con wafer prober o matrici di commutazione è fondamentale per automatizzare suite di test di grandi dimensioni e generare risultati ripetibili e tracciabili.
- Fattore di forma ed espansione: valutare se il sistema supporta la modularità e futuri aggiornamenti per aggiungere canali, unità a impulsi o moduli ad alta tensione senza sostituzione completa.