Sistema ICT in linea ad alta densità; Serie 7i

Il sistema E9988GL Keysight i3070 Series 7i Inline High-Density In-Circuit Test (ICT) introduce le tecnologie ICT nella vostra linea di produzione automatizzata.

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  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum node count

    5760

  • System width

    800 mm

  • Maximum parallel testing

    2

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Punti salienti

Presentazione del sistema di test in linea Keysight i3070 Serie 7i: la soluzione ideale per una copertura di test superiore e una maggiore produttività.

Dotata delle più recenti schede Quad-Density Pin, la serie 7i può ospitare fino a 5760 nodi di test mantenendo un ingombro ridotto di 800 mm di larghezza. Questa maggiore capacità fornisce più risorse per requisiti di test complessi e consente di elaborare pannelli più grandi risparmiando tempo nella movimentazione e nel trasferimento delle schede.

Potete stare tranquilli sapendo che il vostro investimento è al sicuro, poiché la Serie 7i garantisce la piena retrocompatibilità con gli attuali programmi di test e dispositivi di fissaggio E9988E ed E9988EL.

  • Nodi di test doppi: ospita fino a 2 volte più nodi di test mantenendo un ingombro ridotto.
  • Integra il test dei supercondensatori: testa senza sforzo supercondensatori fino a 100 Farad (F) attraverso una soluzione di integrazione disponibile.
  • Consente misurazioni a bassa corrente: consente misurazioni fino a 100 nanoampere (nA), ottimizzando i tempi di sviluppo.
  • Accelera il test degli short: esegue l'algoritmo avanzato del test degli short con una velocità superiore del 50% rispetto ai metodi tradizionali.
  • Migliora la copertura: migliora la copertura tramite la generazione automatica di test cluster.
  • Facilita l'espansione: offre una porta funzionale integrata per espandere le capacità di test.
  • Supera le limitazioni di accesso: integra l'analizzatore boundary scan x1149 per superare le restrizioni di accesso ai test.

Per ulteriori informazioni sui sistemi ICT di Keysight, visitare il sito www.keysight.com/find/ict.