Appareils de mesure multi-longueurs d'onde 86120D et 86122C

La gamme 8612xx de compteurs multi-longueurs d'onde est réputée pour sa fiabilité et sa durabilité dans les ateliers de fabrication et sur les bancs d'essai des ingénieurs. Elle est suffisamment robuste pour être installée sur des navires.

Catalogue des tests photoniques et optiques

Découvrez les solutions de test photonique et optique Keysight conçues pour la caractérisation des dispositifs optiques, la mesure de longueur d'onde, l'analyse de modulation cohérente et les tests de communication optique à haut débit. Ce catalogue présente des instruments de test optique de table et modulaires couvrant plusieurs classes de capacités pour la recherche, la fabrication, l'étalonnage et la validation de systèmes cohérents.

Photonique intégrée

La photonique intégrée, souvent appelée photonique sur silicium, promet des avantages supplémentaires pour des segments industriels tels que les communications intra-centres de données et les interconnexions de centres de données (DCI), les télécommunications, la connectivité 5G et automobile, le calcul haute performance, le LIDAR, la détection et le médical.

Laser accordable à très haute puissance 81602A

La source laser accordable 81602A a été conçue pour explorer de nouveaux domaines d'application dans le test des dispositifs photoniques : elle offre des niveaux de puissance de sortie supérieurs à 50 mW (+17 dBm) et couvre la bande O.

Gamme 8160xA de sources laser accordables

La gamme de sources laser accordables Keysight 8160xA offre une plage de longueurs d'onde complète allant de 1240 nm à 1650 nm avec une précision d'accord et de balayage et une stabilité de puissance maximales.

Catalogue Lightwave : Test & Mesure Réseaux et Centres de Données

Le catalogue des solutions optiques T&M de haute performance fournit des informations sur les applications et les équipements de test pour les réseaux centraux en fibre optique et les centres de données.

Laser accordable à très haute puissance

Le laser accordable à très haute puissance N7774C offre la puissance de sortie la plus élevée de la gamme N777-C. Il est particulièrement adapté aux configurations de test dans lesquelles la puissance du signal est répartie entre des chemins optiques reliés à plusieurs dispositifs sous test (DUT), ou aux montages de test complexes nécessitant un budget de perte optique important.

Famille de sources laser accordables Keysight N777-C

La famille de sources laser accordables N777-C de Keysight Technologies offre la gamme complète de longueurs d'onde de 1240 nm à 1650 nm, sans écart de longueur d'onde. Les sources laser accordables N777-C offrent la rentabilité et les performances requises pour tester les composants pour le multiplexage par répartition en longueur d'onde grossier et dense (CWDM, DWDM, 100GBASE-LR4) et les réseaux optiques passifs (PON).

Guide du stand OFC de Keysight Technologies

Keysight Technologies vous souhaite la bienvenue à la Conférence sur les fibres optiques (OFC) 2019 à San Diego. Nous sommes plus qu'enthousiastes à l'idée de présenter les derniers produits et solutions de Keysight, qui vous aident à accélérer les innovations pour connecter et sécuriser le monde

Brochure sur les solutions pour réseaux et centres de données

Solutions de test approfondies et complètes et postes de travail pour produits, couvrant les tests électriques, optiques, optiques vers électriques et de la couche physique vers le protocole.

Famille 8160xx de sources laser accordables

La gamme de sources laser accordables Keysight 8160xx offre une plage de longueurs d'onde complète allant de 1260 nm à 1650 nm avec une précision d'accord et de balayage optimale et une stabilité de puissance exceptionnelle.

Mesure de la polarisation en fonction de la longueur d'onde

Programmation de l'enregistrement polarimétrique synchronisé avec le balayage laser accordable.

Mesure de la longueur d'onde par balayage de l'IL et de la PDL

Découvrez la mesure de la longueur d'onde de l'IL et de la PDL à l'aide du synthétiseur de polarisation N7786B et de la suite d'applications photoniques N7700A avec la méthode de la matrice de Mueller.

Source laser à longueur d'onde fixe N7710C

La source laser à longueur d'onde fixe Keysight N7710C offre une puissance de sortie optique extrêmement stable, ce qui permet de l'utiliser comme référence dans les configurations d'étalonnage d'équipements de test portables ou pour générer un signal de référence à l'aide d'un modulateur optique

Composants CWDM et LWDM Test de longueur d'onde et de polarisation

Configuration des solutions de test pour les composants CWDM et LAN-WDM.

Catalogue Lightwave : Taux d'erreur binaire et analyse de forme d'onde 2015 Volume 3 - Catalogue

Le volume III traite du « taux d'erreur binaire et de l'analyse des formes d'onde » pour les centres de données et les environnements cloud.

Moteur d'analyse PAS Lambda : solution de test de dépendance à la longueur d'onde

Ce guide décrit les configurations permettant de tester les composants optiques-optiques et optiques-électriques des fibres optiques.

Analyse du spectre optique

Cette note d'application a pour but de fournir au lecteur une compréhension de base des analyseurs de spectre optique, de leurs technologies, de leurs spécifications et de leurs applications.

Mesureurs de puissance optique N7742C et N7743C

Avec les nouveaux N7742C et N7743C, Keysight étend les fonctionnalités de la célèbre gamme de wattmètres optiques N774-C. Ces nouveaux instruments offrent des modèles pour une gamme de longueurs d'onde plus large, des niveaux de puissance plus élevés, un retour analogique et une granularité plus fine du nombre de ports, tout en conservant la vitesse et les performances d'enregistrement des modèles N7744C et N7745C bien établis.

Catalogue des compteurs électriques

Découvrez les wattmètres et capteurs RF et hyperfréquences Keysight conçus pour des mesures précises de la puissance moyenne, de crête et temporisée. Ce catalogue présente les wattmètres de table et une large gamme de capteurs de différentes classes de capacité destinés à la R&D, à la fabrication, aux tests sans fil, à l'étalonnage et aux applications sur le terrain.