Solutions de test paramétrique à impulsions IV

Ce guide de sélection Pulsed-IV fournit une vue d'ensemble et une comparaison côte à côte de tous les produits Keysight afin de déterminer la solution la mieux adaptée à vos besoins spécifiques.

Système de test paramétrique parallèle PX9002A

Cette brochure fournit des informations sur le matériel, les logiciels et les services du système de test paramétrique parallèle PX9002A, une solution complète pour les fabricants de semi-conducteurs.

B1542A Solution de test paramétrique IV à impulsions de dix nanosecondes

Cette note présente les grandes lignes de la solution IV à impulsions ultra-courtes de l'analyseur de dispositifs semi-conducteurs B1500A.

Laboratoire d'enseignement sur les tests paramétriques et les mesures sur plaquette

Solution de laboratoire d'enseignement sur les semi-conducteurs pour les tests paramétriques et les mesures sur plaquette.

Système de test de plaquettes haute tension 4881HV

Le système de test haute tension 4881HV permet d'effectuer le contrôle du processus et les tests d'acceptation des plaquettes dans la fabrication jusqu'à 3 kV afin de répondre aux exigences futures d'applications telles que l'automobile.

Analyseurs de précision IV E5260A/E5262A/E5263A/E5270B

Cette présentation technique explique comment évaluer les caractéristiques courant-tension de précision à l'aide des analyseurs de courant-tension de précision E5260A/E5262A/E5263A/E5270B.

Composants électroniques Évaluation des semi-conducteurs/transistors

Semi-conducteur

Mise à l'échelle des centres de données IA

Le document « Scaling AI Data Centers » explique pourquoi le calcul à l'échelle de l'IA sollicite chaque composant du centre de données et pourquoi la suppression d'une contrainte en révèle souvent une autre. Il présente une architecture « chip-to-cluster » (de la puce au cluster) couvrant la conception pré-silicium, les plaquettes, les puces et les chiplets, les cartes, les serveurs, les racks, les centres de données complets et les déploiements en périphérie. Le document positionne l'avantage stratégique de Keysight Technologies comme une combinaison de portée et de corrélation : prédire le comportement du système avant que le matériel n'existe, cartographier les marges physiques au niveau de la couche de plaquettes et de photonique, puis valider les interconnexions et les charges de travail dans des conditions similaires à celles de la production. À travers la pile, il met en évidence des domaines de solutions tels que l'automatisation de la conception électronique pour l'interconnexion des puces et la conception photonique, les tests automatisés des plaquettes de silicium et de silicium photonique, la validation post-silicium pour les normes die-to-die telles que UCIe, et le débogage des signaux au niveau de la carte, de l'intégrité de l'alimentation et des interférences électromagnétiques. Il passe ensuite à la validation des serveurs et des racks avec l'analyse des protocoles, les workflows des émetteurs-récepteurs Ethernet 800G et 1,6T, la génération de trafic à grande échelle pour les modèles d'apprentissage et d'inférence, et la validation du transport Ethernet pour RoCEv2 et Ultra Ethernet. Au niveau des centres de données et de la périphérie, il ajoute l'émulation, les tests de sécurité et de performance, l'analyse du transport optique cohérent, la visibilité du réseau et la validation sans fil et AI-RAN. Il conclut que les défis multicouches exigent une expertise à plusieurs niveaux, associant des connaissances basées sur la physique au contexte du système afin d'aider les équipes à garder une longueur d'avance en toute confiance.

Évolutivité de l'infrastructure IA, de la puce au cluster

Affiche sur la mise à l'échelle des centres de données IA qui explique pourquoi le calcul à l'échelle de l'IA sollicite chaque partie du centre de données et pourquoi la suppression d'une contrainte en révèle souvent une autre. Elle présente une structure « chip-to-cluster » (de la puce au cluster) couvrant la conception pré-silicium, les plaquettes, les puces et les chiplets, les cartes, les serveurs, les racks, les centres de données complets et les déploiements en périphérie. Le document positionne l'avantage stratégique de Keysight Technologies comme une combinaison de portée et de corrélation : prédire le comportement du système avant que le matériel n'existe, cartographier les marges physiques au niveau de la couche de plaquettes et de photonique, puis valider les interconnexions et les charges de travail dans des conditions similaires à celles de la production. À travers la pile, il met en évidence des domaines de solutions tels que l'automatisation de la conception électronique pour l'interconnexion des puces et la conception photonique, les tests automatisés des plaquettes de silicium et de silicium photonique, la validation post-silicium pour les normes die-to-die telles que UCIe, et le débogage des signaux au niveau de la carte, de l'intégrité de l'alimentation et des interférences électromagnétiques. Il passe ensuite à la validation des serveurs et des racks avec l'analyse des protocoles, les workflows des émetteurs-récepteurs Ethernet 800G et 1,6T, la génération de trafic à grande échelle pour les modèles d'apprentissage et d'inférence, et la validation du transport Ethernet pour RoCEv2 et Ultra Ethernet. Au niveau des centres de données et de la périphérie, il ajoute l'émulation, les tests de sécurité et de performance, l'analyse du transport optique cohérent, la visibilité du réseau et la validation sans fil et AI-RAN. Il conclut que les défis multicouches exigent une expertise à plusieurs niveaux, associant des connaissances basées sur la physique au contexte du système pour aider les équipes à garder une longueur d'avance en toute confiance.

Solution de référence pour les tests paramétriques DDR4

La solution de référence pour les tests paramétriques DDR4 aide les ingénieurs à tester, déboguer et caractériser leurs conceptions DDR4.

Défis et solutions pour les applications de test en science et ingénierie des matériaux

Cette présentation technique présente les solutions Keysight destinées aux applications de test dans les domaines de la science des matériaux et de l'ingénierie.

Solution de référence pour les tests paramétriques DDR4

Découvrez comment configurer votre solution pour le test paramétrique DDR4.

Mesure simple des courants d'ionisation pulsés à haute puissance à l'aide du module HV-SPGU du Keysight B1500A

Cette présentation technique montre à quel point il est facile d'effectuer des mesures IV à haute puissance à l'aide du module HV-SPGU du B1500A de Keysight.

B1500A Analyseur de dispositifs à semi-conducteurs

Cette présentation technique décrit l'utilisation du B1500A pour les mesures IV pulsées à l'aide du MCSMU à impulsions de 50 µs du B1500.

Solution de référence pour système de test d'interconnexion numérique

Cette fiche solution présente les caractéristiques et les avantages de la solution de référence pour les systèmes de test d'interconnexion numérique.

Solution pour laboratoire d'enseignement sur les semi-conducteurs : test paramétrique et mesure sur plaquette

La solution pédagogique UU102LAB Semiconductor Teaching Solution : Parametric Test and On-Wafer Measurement est une plateforme complète et prête à l'emploi pour l'enseignement des semi-conducteurs. Cette solution offre une expérience pratique de la caractérisation des dispositifs, de la mesure à faible courant, de l'analyse C-V et du test sur wafer à l'aide de l'analyseur de paramètres B1500A de Keysight, d'un DUT, d'une station de test et d'exercices de laboratoire structurés.

Solutions de test O-RAN de Keysight

L'Open RAN permet d'éviter la dépendance vis-à-vis d'un seul fournisseur et présente de nombreux avantages, mais il n'est pas sans poser de défis. Découvrez nos solutions de test O-RAN pour une validation avancée.

Test de la couche application pour votre solution de test d'appareils 5G

La technologie 5G pose de nouveaux défis aux équipes chargées de l'assurance qualité (AQ), car la complexité de la 5G nécessite des tests approfondis pour garantir sa robustesse et sa fonctionnalité. Afin de tester de manière approfondie les appareils 5G, il est nécessaire d'identifier les problèmes potentiels et de tester les applications dans divers scénarios et cas d'utilisation. Pour relever ces défis, Keysight propose la plateforme de test sans fil UXM 5G, qui est intégrée au logiciel de test et d'automatisation intelligent d'Eggplant. Cette solution permet de tester la couche applicative, offrant ainsi une solution 5G complète pour tester l'expérience utilisateur en parallèle avec les tests RF et fonctionnels.

Solution de test d'étalonnage et de caractérisation rapide pour les antennes à réseau phasé

La solution de test de contrôle et d'étalonnage des réseaux d'antennes phasées de Keysight offre un système de mesure pratique et flexible, adapté à une grande variété de tests de vérification des performances des antennes phasées. Ces tests comprennent l'étalonnage rapide du gain et de la phase, la puissance isotrope rayonnée équivalente (EIRP), le diagramme de rayonnement de l'antenne, le rapport gain/température de bruit (G/T) de l'antenne, la distorsion de modulation (amplitude du vecteur d'erreur (EVM) et rapport de puissance des canaux adjacents), ainsi que les mesures de radiofréquence et les mesures numériques directes. La solution offre une interface logicielle complète et conviviale qui intègre et synchronise le contrôle numérique des instruments de test haute performance de Keysight.

Le manuel des mesures paramétriques - Edition 5

La 5e édition du Parametric Measurement Handbook de Keysight est une référence complète en matière de mesures paramétriques, avec des informations utiles pour les utilisateurs novices et avancés.