Soluzioni per prove parametriche con iniezione a impulsi

Questa guida alla scelta dei generatori di impulsi IV offre una panoramica e un confronto diretto di tutti i modelli Keysight, per aiutarti a individuare la soluzione più adatta alle tue esigenze specifiche.

Sistema di test parametrico parallelo PX9002A

Questa brochure fornisce informazioni su hardware, software e assistenza per il sistema di test parametrico parallelo PX9002A, una soluzione completa per i produttori di semiconduttori.

B1542A Soluzione per test parametrici IV pulsati a dieci nanosecondi

Questa nota mostra lo schema della soluzione B1500A Semicondcutor Device Analyzer Ultra-Short Pulsed IV.

4881HV Sistema di test per wafer ad alta tensione

Il sistema di test ad alta tensione 4881HV consente di eseguire il monitoraggio del controllo di processo e i test di accettazione dei wafer nella produzione fino a 3 kV per soddisfare i requisiti futuri di applicazioni quali il settore automobilistico.

Analizzatori IV di precisione E5260A/E5262A/E5263A/E5270B

Questa panoramica tecnica illustra come valutare le caratteristiche di precisione corrente-tensione utilizzando la serie di analizzatori IV di precisione E5260A/E5262A/E5263A/E5270B.

Valutazione di componenti elettronici: semiconduttori/transistor

Semicon

Scalabilità dei data center AI

Scaling AI Data Centers spiega perché il computing su scala AI mette sotto pressione ogni parte del data center e perché la rimozione di un vincolo spesso ne espone un altro. Presenta un framework chip-to-cluster che abbraccia la progettazione pre-silicio, i wafer, i chip e i chiplet, le schede, i server, i rack, i data center completi e le implementazioni edge. Il documento posiziona il vantaggio strategico di Keysight Technologies come ampiezza più correlazione: prevedere il comportamento del sistema prima che l'hardware esista, mappare i margini fisici a livello di wafer e fotonica, quindi convalidare le interconnessioni e i carichi di lavoro in condizioni simili alla produzione. In tutto lo stack, evidenzia aree di soluzione quali l'automazione della progettazione elettronica per l'interconnessione dei chiplet e la progettazione fotonica, il test automatizzato dei wafer in silicio e fotonici in silicio, la convalida post-silicio per standard die-to-die come UCIe e il debug a livello di scheda di segnale, integrità dell'alimentazione e interferenze elettromagnetiche. Passa quindi alla convalida di server e rack con analisi dei protocolli, flussi di lavoro dei ricetrasmettitori Ethernet 800G e 1,6T, generazione di traffico su larga scala per modelli di addestramento e inferenza e convalida del trasporto Ethernet per RoCEv2 e Ultra Ethernet. A livello di data center e edge aggiunge emulazione, test di sicurezza e prestazioni, analisi del trasporto ottico coerente, visibilità della rete e validazione wireless AI-RAN. Conclude che le sfide multilivello richiedono competenze multilivello, abbinando conoscenze basate sulla fisica al contesto del sistema per aiutare i team a rimanere con sicurezza generazioni avanti.

Laboratorio didattico di test parametrici e misurazioni su wafer

Soluzione per laboratorio didattico di semiconduttori per test parametrici e misurazioni su wafer.

Scalare l'infrastruttura AI dal chip al cluster

Poster per il ridimensionamento dei data center AI che spiega perché il computing su scala AI mette sotto pressione ogni parte del data center e perché la rimozione di un vincolo spesso ne espone un altro. Presenta un framework chip-to-cluster che abbraccia la progettazione pre-silicio, i wafer, i chip e i chiplet, le schede, i server, i rack, i data center completi e le implementazioni edge. Il documento posiziona il vantaggio strategico di Keysight Technologies come ampiezza più correlazione: prevedere il comportamento del sistema prima che l'hardware esista, mappare i margini fisici a livello di wafer e fotonica, quindi convalidare le interconnessioni e i carichi di lavoro in condizioni simili alla produzione. In tutto lo stack, il documento evidenzia aree di soluzione quali l'automazione della progettazione elettronica per l'interconnessione dei chiplet e la progettazione fotonica, il test automatizzato dei wafer in silicio e fotonici in silicio, la convalida post-silicio per standard die-to-die come UCIe e il debug a livello di scheda di segnale, integrità dell'alimentazione e interferenze elettromagnetiche. Passa quindi alla convalida di server e rack con analisi dei protocolli, flussi di lavoro dei ricetrasmettitori Ethernet 800G e 1,6T, generazione di traffico su larga scala per modelli di addestramento e inferenza e convalida del trasporto Ethernet per RoCEv2 e Ultra Ethernet. A livello di data center e edge aggiunge emulazione, test di sicurezza e prestazioni, analisi del trasporto ottico coerente, visibilità della rete e convalida wireless AI-RAN. Conclude che le sfide multilivello richiedono competenze multilivello, abbinando conoscenze basate sulla fisica al contesto del sistema per aiutare i team a rimanere con sicurezza generazioni avanti.

Sfide e soluzioni per le applicazioni di prova nel campo della scienza dei materiali e dell'ingegneria

Questa panoramica tecnica presenta le soluzioni Keysight destinate alle applicazioni di test nel campo della scienza dei materiali e dell'ingegneria.

Soluzione di riferimento per i test parametrici DDR4

La soluzione di riferimento per i test parametrici DDR4 aiuta gli ingegneri a testare, correggere i bug e caratterizzare i propri progetti DDR4.

Misurazione semplice della corrente continua pulsata ad alta potenza tramite il modulo HV-SPGU del Keysight B1500A

Questa panoramica tecnica illustra quanto sia semplice effettuare misurazioni IV ad alta potenza utilizzando il modulo HV-SPGU del Keysight B1500A.

Soluzione di riferimento per i test parametrici DDR4

Scopri come configurare la tua soluzione per il test parametrico DDR4.

Analizzatore di dispositivi a semiconduttore B1500A

La presente panoramica tecnica descrive l'utilizzo del B1500A per misurazioni IV a impulsi mediante l'MCSMU a impulsi da 50 us del B1500.

Manuale di misura parametrica - Edizione 5

La quinta edizione del Parametric Measurement Handbook di Keysight è un riferimento completo per le misure parametriche, con informazioni utili sia per gli utenti alle prime armi che per quelli più esperti.

Soluzione per laboratorio didattico sui semiconduttori: test parametrici e misurazioni su wafer

La soluzione didattica UU102LAB Semiconductor: Parametric Test and On-Wafer Measurement è una piattaforma completa e pronta all'uso per la formazione nel campo dei semiconduttori. Questa soluzione offre un'esperienza pratica con la caratterizzazione dei dispositivi, la misurazione a bassa corrente, l'analisi C-V e il test su wafer utilizzando l'analizzatore di parametri B1500A di Keysight, il DUT, la stazione di test e esercizi di laboratorio strutturati.

Soluzione di riferimento per il sistema di test di interconnessione digitale

Questo documento illustra le caratteristiche e i vantaggi della soluzione di riferimento per il sistema di test di interconnessione digitale.

Soluzione di misurazione parametrica

Il presente QFS illustra le caratteristiche principali e le informazioni per l'ordinazione della soluzione di misura parametrica, composta dall'SMU U2722A/U2723A, dall'U2941A e dal software PMM Pro U2942A.

Test del livello applicativo per la soluzione di test dei dispositivi 5G

La tecnologia 5G pone nuove sfide ai team addetti al controllo qualità (QA), poiché la complessità del 5G richiede test approfonditi per garantirne la robustezza e la funzionalità. Per testare accuratamente i dispositivi 5G, è necessario identificare potenziali problemi e testare le applicazioni in una varietà di scenari e casi d'uso. Per affrontare queste sfide, Keysight offre la piattaforma Wireless UXM 5G, integrata con il software di test e automazione intelligente di Eggplant. Questa soluzione consente di eseguire test a livello di applicazione, fornendo una soluzione 5G completa per testare l'esperienza utente in parallelo con i test RF e funzionali.

Soluzione di prova rapida per la calibrazione e la caratterizzazione delle antenne phased array

La soluzione di Keysight per i test di controllo e calibrazione degli array a fasi offre un sistema di misura pratico e flessibile, in grado di supportare un’ampia gamma di test di verifica delle prestazioni delle antenne a fasi. Tali test includono la calibrazione rapida di guadagno e fase, la potenza isotropica effettiva irradiata (EIRP), il diagramma di radiazione dell’antenna, il rapporto guadagno/temperatura di rumore (G/T) dell’antenna, la distorsione di modulazione (magnitudine del vettore di errore (EVM) e rapporto di potenza del canale adiacente) e le misurazioni da radiofrequenza a digitale diretto. La soluzione offre un’interfaccia software completa e intuitiva che integra e sincronizza il controllo digitale degli strumenti di test ad alte prestazioni di Keysight.