Soluzioni per prove parametriche con iniezione a impulsi

Questa guida alla scelta dei generatori di impulsi IV offre una panoramica e un confronto diretto di tutti i modelli Keysight, per aiutarti a individuare la soluzione più adatta alle tue esigenze specifiche.

B1542A Soluzione per test parametrici IV pulsati a dieci nanosecondi

Questa nota mostra lo schema della soluzione B1500A Semicondcutor Device Analyzer Ultra-Short Pulsed IV.

Sistema di test parametrico parallelo PX9002A

Questa brochure fornisce informazioni su hardware, software e assistenza per il sistema di test parametrico parallelo PX9002A, una soluzione completa per i produttori di semiconduttori.

Soluzione di riferimento per i test parametrici DDR4

La soluzione di riferimento per i test parametrici DDR4 aiuta gli ingegneri a testare, correggere i bug e caratterizzare i propri progetti DDR4.

Soluzione di riferimento per i test parametrici DDR4

Scopri come configurare la tua soluzione per il test parametrico DDR4.

Soluzione di misurazione parametrica

Il presente QFS illustra le caratteristiche principali e le informazioni per l'ordinazione della soluzione di misura parametrica, composta dall'SMU U2722A/U2723A, dall'U2941A e dal software PMM Pro U2942A.

Soluzione per laboratorio didattico sui semiconduttori: test parametrici e misurazioni su wafer

La soluzione didattica UU102LAB Semiconductor: Parametric Test and On-Wafer Measurement è una piattaforma completa e pronta all'uso per la formazione nel campo dei semiconduttori. Questa soluzione offre un'esperienza pratica con la caratterizzazione dei dispositivi, la misurazione a bassa corrente, l'analisi C-V e il test su wafer utilizzando l'analizzatore di parametri B1500A di Keysight, il DUT, la stazione di test e esercizi di laboratorio strutturati.

Test parametrico ad alta velocità con tester parametrici

Scopri alcune nuove tecniche per i test parametrici ad alta velocità utilizzando la serie di test parametrici Keysight 4080.

Laboratorio didattico di test parametrici e misurazioni su wafer

Soluzione per laboratorio didattico di semiconduttori per test parametrici e misurazioni su wafer.

U2941A Dispositivo di prova parametrico

Si tratta di una scheda tecnica di 5 pagine relativa al dispositivo di prova parametrico U2941A.

Sistema di test parametrico parallelo P9002A

Questa brochure fornisce informazioni su hardware, software e assistenza per il sistema di test parametrico parallelo P9002A, una soluzione completa per i produttori di semiconduttori.

Sistema di test parametrico per il test della memoria flash NAND

La capacità di uscita a ±40 V del sistema di test parametrico 4082F e delle HV-SPGU offre potenti soluzioni di test per la caratterizzazione delle celle di memoria NAND flash.

P9001A Sistema di test parametrico massivamente parallelo

Il sistema di test parametrico massivamente parallelo Keysight P9001A è un modello di punta per le linee di produzione di wafer con tecnologia all'avanguardia. Come soluzione completa per hardware, software e servizi, in questa brochure sono disponibili tutte le informazioni relative al P9001A.

Manuale di misura parametrica - Edizione 5

La quinta edizione del Parametric Measurement Handbook di Keysight è un riferimento completo per le misure parametriche, con informazioni utili sia per gli utenti alle prime armi che per quelli più esperti.

Test parametrico a 110 GHz

L'analizzatore di componenti ottici Keysight N4372E offre una larghezza di banda di 110 GHz e supporta l'intera gamma di lunghezze d'onda da 1260 nm a 1620 nm sia per i test dei trasmettitori ottici che per quelli dei ricevitori ottici, grazie a un trasmettitore calibrato e tracciabile secondo gli standard del National Institute of Standards and Technology (NIST).

Tester parametrici serie 4080

Questa brochure fornisce informazioni su hardware, software e servizi per il sistema di test parametrico della serie 4080, una soluzione completa per test ad alta produttività.

Sfide e soluzioni per le applicazioni di prova nel campo della scienza dei materiali e dell'ingegneria

Questa panoramica tecnica presenta le soluzioni Keysight destinate alle applicazioni di test nel campo della scienza dei materiali e dell'ingegneria.

Serie 4080 di tester parametrici

Questa brochure descrive in dettaglio le caratteristiche e i vantaggi dei tester parametrici Keysight serie 4080. Inoltre, evidenzia il nostro vantaggio competitivo nel testare dispositivi di nuova generazione.

N9100AU: Aggiornamento del test parametrico 4080 dal prodotto 4070

La presente documentazione riguarda l’aggiornamento del test parametrico del prodotto Keysight 4080 dal modello 4070, N9100AU.

Accessori per strumenti parametrici

Il presente documento descrive gli accessori per gli strumenti di misura parametrica Keysight e spiega come collegare tali strumenti a un wafer prober utilizzando gli accessori.