Comprobador de estructuras eléctricas

El comprobador eléctrico estructural (EST) s8050 de Keysight desempeña un papel fundamental en las pruebas de semiconductores tras el moldeado, ya que detecta a tiempo los defectos en las uniones de cables y garantiza la fiabilidad de los circuitos integrados antes de las pruebas funcionales y finales.

Comprobador de estructuras eléctricas

El comprobador estructural eléctrico de Keysight es una solución de vanguardia diseñada para mejorar la detección de defectos en las conexiones de cables de circuitos integrados (IC) mediante tecnología capacitiva. Identifica diversos defectos en las conexiones de cables, como cortocircuitos cercanos, cables sueltos, barrido de cables y caídas de cables, lo que ayuda a mitigar los retos que plantea el sobreesfuerzo eléctrico (EOS) en la integridad de los chips. Optimizado para la eficiencia de la producción, el comprobador puede admitir hasta veinte sitios de prueba en paralelo, alcanzando una tasa de unidades por hora (UPH) de 72 000 IC, lo que lo hace ideal para procesos de prueba a nivel de producción y evaluaciones de devoluciones de campo. Esto garantiza que los fabricantes puedan producir componentes de alta calidad, reducir las devoluciones de productos y mantener la fiabilidad y la consistencia de los productos electrónicos.

Comprobador de estructuras eléctricas

El comprobador estructural eléctrico de Keysight es una solución de vanguardia diseñada para mejorar la detección de defectos en las uniones de cables de circuitos integrados (IC) mediante tecnología capacitiva. Identifica diversos defectos en las uniones de cables, como cortocircuitos cercanos, cables sueltos, barridos de cables y caídas de cables, lo que ayuda a mitigar los retos que plantea el sobreesfuerzo eléctrico (EOS) en la integridad de los chips. Optimizado para la eficiencia de la producción, el comprobador puede admitir hasta veinte sitios de prueba en paralelo, alcanzando una tasa de unidades por hora (UPH) de 72 000 IC, lo que lo hace ideal para procesos de prueba a nivel de producción y evaluaciones de devoluciones de campo. Esto garantiza que los fabricantes puedan producir componentes de alta calidad, reducir las devoluciones de productos y mantener la fiabilidad y la consistencia de los productos electrónicos.

Cómo las pruebas basadas en la tecnología capacitiva mejoran la detección de fallos en las uniones de cables

El comprobador eléctrico estructural s8050 de Keysight revoluciona la detección de defectos en las uniones de cables gracias a la tecnología de pruebas capacitivas nVTEP. Ofrece un cribado preciso y de alta velocidad de los circuitos integrados, detectando defectos como casi-cortocircuitos, barridos y cables levantados que suelen pasar desapercibidos en los métodos de prueba convencionales. El s8050 permite a los fabricantes alcanzar un mayor rendimiento, reduciendo la dependencia de las inspecciones por muestreo y mejorando al mismo tiempo la calidad general del producto.

Comprobador de integridad de la unión de cables para la inspección posterior al moldeo en el montaje de semiconductores de gran volumen

El comprobador de estructuras eléctricas (EST) Keysight s8050 funciona como una estación de cribado de alto rendimiento, optimizada específicamente para pruebas de gran volumen de paquetes unidos por cables. Aprovecha la tecnología Nano Vecterless Test Enhanced Performance (nVTEP) para detectar eficazmente los defectos en los paquetes unidos por cables. Gracias a este avanzado método de ensayo, la s8050 permite identificar rápidamente las regiones del dispositivo bajo ensayo (DUT) que presentan deformaciones significativas en la unión de cables, lo que garantiza la detección temprana de defectos y la mejora de la calidad de fabricación.

Probador estructural eléctrico Keysight

Este vídeo destacado presenta el probador estructural eléctrico (EST) de Keysight, que aprovecha la tecnología puntera nano Vectorless Test Enhanced Performance (nVTEP) para proporcionar unas capacidades de detección de defectos sin precedentes. Al crear una estructura capacitiva entre la unión del cable y una placa sensora, el EST de Keysight puede identificar defectos sutiles, como el hundimiento del cable, cortocircuitos cercanos y cables sueltos, lo que garantiza una evaluación exhaustiva de la integridad de la unión del cable.

Soluciones de diseño y pruebas de circuitos integrados

Desde el diseño hasta las pruebas funcionales, acelere su proceso de diseño de circuitos integrados con el software, el hardware y los servicios profesionales personalizados de Keysight. Obtenga herramientas y soluciones relacionadas con los circuitos integrados, pensadas para las diferentes etapas del ciclo de vida del diseño y las pruebas de circuitos integrados.

Metodologías de ensayo estructural eléctrico de uniones por hilo

La unión por hilo, un proceso fundamental en microelectrónica, es esencial para establecer una conexión eléctrica robusta y de baja resistencia entre los chips semiconductores y sus respectivos paquetes o, en el caso de los módulos multichip, entre diferentes chips. La conexión se realiza desde la almohadilla de unión del chip a una almohadilla correspondiente en el sustrato del paquete u otro chip mediante la unión meticulosa de un hilo fino, normalmente compuesto por materiales como oro, aluminio o cobre. Este complejo proceso garantiza la funcionalidad, la fiabilidad y el rendimiento general del dispositivo. Se han desarrollado y adoptado varios métodos de prueba de unión de cables para detectar defectos en los circuitos integrados (CI) moldeados en microelectrónica. Sin embargo, los métodos de prueba actuales en el mercado tienen sus propias fortalezas y debilidades; no son exhaustivos, sino que se complementan entre sí. Se ha desarrollado un método innovador denominado prueba capacitiva para proporcionar pruebas de unión de cables más completas, detectando defectos de unión de cables que son invisibles con los métodos de prueba convencionales. Estos defectos incluyen cortocircuitos cercanos, barrido de cables, comba de cables y más.

Una nueva solución para pruebas de conexiones por hilo mejora la fiabilidad de los circuitos integrados para el sector de la automoción

Este caso de éxito pone de relieve cómo el probador de estructuras eléctricas (EST) basado en tecnología capacitiva de Keysight permitió a un proveedor líder de servicios de montaje y ensamblaje de semiconductores (OSAT) eliminar los defectos de soldadura de cables en circuitos integrados para el sector de la automoción. Al detectar defectos ocultos en grandes volúmenes de producción, la solución redujo las costosas devoluciones de productos, mejoró la fiabilidad y garantizó la seguridad de los circuitos integrados de grado automovilístico.

Medición de estructuras de CNT con un analizador de semiconductores

El analizador de dispositivos semiconductores B1500A y el analizador de parámetros semiconductores de precisión 4156C ofrecen una solución de medición eléctrica para la caracterización de estructuras CNT.

SL1550A EV - Probador de interfaz de comunicación de carga EVSE

El Com Tester es un adaptador de prueba totalmente integrado para controladores de comunicación de vehículos eléctricos (EVCC) o controladores de comunicación de equipos de suministro (SECC) según el Sistema de Carga Combinada (CCS).

Serie PD1550A

Esta ficha técnica describe el analizador Advanced de dispositivos de potencia Advanced PD1550A / probador de doble pulso (DPT), una solución que se utiliza para probar dispositivos discretos y módulos de potencia basados en semiconductores de banda ancha destinados a aplicaciones críticas de conversión de potencia en los sectores de la automoción y la energía, tales como vehículos eléctricos, inversores fotovoltaicos y otros convertidores de potencia.

Acelere el desarrollo de sus dispositivos MEMS y mejore la eficiencia de su fabricación con los mejores instrumentos de prueba de impedancia del mercado

Este folleto ofrece una visión general de las capacidades de Keysight en el ámbito de las pruebas de dispositivos MEMS y da a conocer a los clientes la solución de Keysight para pruebas de impedancia de MEMS.

Tolerancias y límites de prueba de los componentes electrónicos para pruebas en circuito

Para que todos los componentes montados funcionen correctamente, se miden y analizan eléctricamente mediante un comprobador en circuito, con el fin de garantizar que sus valores y rendimiento sean óptimos.

Una empresa médica aumenta la integridad de la señal en los sistemas de endoscopia de ultra alta definición

El panorama médico ha experimentado una transformación radical, y la endoscopia se ha convertido en una herramienta diagnóstica fundamental que ha revolucionado la atención al paciente. La endoscopia utiliza un endoscopio flexible o rígido provisto de una fuente de luz y una cámara. Esta herramienta diagnóstica permite acceder a múltiples sistemas de órganos internos, lo que proporciona a los profesionales sanitarios una visión detallada de las estructuras anatómicas internas del cuerpo humano para la evaluación diagnóstica y la realización de procedimientos mínimamente invasivos, como la cirugía laparoscópica. Este versátil procedimiento ha ampliado su alcance a diversos sistemas orgánicos, lo que permite a los profesionales sanitarios obtener una visión completa de las estructuras anatómicas internas. Una empresa líder en tecnología médica especializada en endoscopia fabrica continuamente un endoscopio que ofrece imágenes de alta calidad para el diagnóstico precoz y la cirugía mínimamente invasiva. Con la llegada del 4K y el inminente cambio a la imagen 8K, la demanda de imágenes de vídeo de alta definición es fundamental para la precisión de los procedimientos médicos. El equipo de I+D de la empresa tenía que garantizar que la velocidad de transferencia de datos de estas imágenes superara los 10 Gbps, lo que suponía un importante obstáculo técnico. Los expertos en ingeniería de Keysight recomendaron las soluciones de diseño digital de alta velocidad, que incluyen los osciloscopios Keysight Infiniium serie Z, los comprobadores de tasa de error de bits (BERT) de Keysight, los analizadores de redes vectoriales con reflectometría en el dominio del tiempo (VNA-TDR) de Keysight y el software Keysight PathWave Advanced System (ADS).

El valor del comprobador en circuito

Este artículo analiza cómo los comprobadores en circuito para PCBAs pueden desempeñar un papel importante a la hora de mejorar el valor del producto y aumentar la eficiencia de la producción para los fabricantes de productos electrónicos. Este artículo apareció por primera vez en la edición de abril de 2011 de Circuits Assembly. Reimpreso con el amable permiso de UP Media Group.

Prueba de condensadores electrolíticos con un comprobador en circuito

Descripción de la solución de prueba de polaridad alternativa para condensadores electrolíticos montados en el conjunto de la placa de circuito impreso utilizando el sistema ICT i3070.

Ampliación de los centros de datos de IA

Scaling AI Data Centers explica por qué la computación a escala de IA impulsa cada parte del centro de datos y por qué eliminar una restricción a menudo expone la siguiente. Presenta un marco de chip a clúster que abarca el diseño previo al silicio, las obleas, los chips y chiplets, las placas, los servidores, los racks, los centros de datos completos y las implementaciones periféricas. El documento posiciona la ventaja estratégica de Keysight Technologies como amplitud más correlación: predecir el comportamiento del sistema antes de que exista el hardware, mapear los márgenes físicos en la capa de obleas y fotónica, y luego validar las interconexiones y las cargas de trabajo en condiciones similares a las de producción. En toda la pila, destaca áreas de solución como la automatización del diseño electrónico para la interconexión de chiplets y el diseño fotónico, las pruebas automatizadas de obleas de silicio y fotónicas de silicio, la validación post-silicio para estándares de matriz a matriz como UCIe, y la depuración de señales a nivel de placa, integridad de la alimentación e interferencias electromagnéticas. A continuación, pasa a la validación de servidores y racks con análisis de protocolos, flujos de trabajo de transceptores Ethernet 800G y 1,6T, generación de tráfico a gran escala para patrones de entrenamiento e inferencia, y validación del transporte Ethernet para RoCEv2 y Ultra Ethernet. A escala de centro de datos y periferia, añade emulación, pruebas de seguridad y rendimiento, análisis de transporte óptico coherente, visibilidad de la red y validación inalámbrica y AI-RAN. Concluye que los retos multicapa exigen conocimientos especializados a varios niveles, combinando conocimientos basados en la física con el contexto del sistema para ayudar a los equipos a mantenerse con confianza varias generaciones por delante.

Análisis de fallos mediante el B1500A con una nanoprobeta

Aprenda a realizar análisis de fallos y a sondear transistores individuales utilizando el analizador de dispositivos semiconductores B1500A con una nanoprobeta.

Consideraciones sobre la reutilización de accesorios: de en línea a fuera de línea

Esta nota de aplicación describe las diferencias entre el sistema de prueba de 4 módulos en línea de la serie i3070 (E9986E) y el sistema de prueba de 4 módulos fuera de línea, así como las consideraciones relativas a la reutilización de los accesorios.