Catálogo de produtos de distribuição 1º de maio de 2022

O Catálogo de Distribuição da Keysight fornece uma visão geral dos produtos Keysight vendidos por meio de distribuidores com links K.com para informações mais detalhadas. Esta é a versão de 1º de maio de 2022 da publicação semestral do catálogo.

Testador de estruturas elétricas

O Testador Elétrico Estrutural (EST) s8050 da Keysight desempenha um papel fundamental nos testes de semicondutores pós-moldagem, detectando precocemente defeitos na ligação de fios e garantindo a confiabilidade dos circuitos integrados antes dos testes funcionais e finais.

Testador de estruturas elétricas

O Testador Estrutural Elétrico da Keysight é uma solução de ponta projetada para aprimorar a detecção de defeitos em ligações de fios de circuitos integrados (IC) usando tecnologia capacitiva. Ele identifica vários defeitos de ligação de fios, incluindo quase curtos-circuitos, fios soltos, varredura de fios e flacidez de fios, ajudando a mitigar os desafios impostos pelo sobrecarregamento elétrico (EOS) na integridade do chip. Otimizado para eficiência de produção, o testador pode suportar até vinte locais de teste paralelos, atingindo uma taxa de unidades por hora (UPH) de 72.000 ICs, tornando-o ideal para processos de teste em nível de produção e avaliações de retorno de campo. Isso garante que os fabricantes possam produzir componentes de alta qualidade, reduzir as devoluções de produtos e manter a confiabilidade e a consistência dos produtos eletrônicos.

Testador de estruturas elétricas

O Tester Estrutural Elétrico da Keysight é uma solução de ponta projetada para aprimorar a detecção de defeitos em ligações de fios de circuitos integrados (IC) usando tecnologia capacitiva. Ele identifica vários defeitos de ligação de fios, incluindo quase curtos-circuitos, fios soltos, varredura de fios e flacidez de fios, ajudando a mitigar os desafios impostos pelo sobrecarregamento elétrico (EOS) na integridade do chip. Otimizado para eficiência de produção, o testador pode suportar até vinte locais de teste paralelos, atingindo uma taxa de 72.000 ICs por hora (UPH), tornando-o ideal para processos de teste em nível de produção e avaliações de retorno de campo. Isso garante que os fabricantes possam produzir componentes de alta qualidade, reduzir as devoluções de produtos e manter a confiabilidade e a consistência dos produtos eletrônicos.

Como os testes baseados em capacitância melhoram a detecção de ligações por fio

O Testador Elétrico Estrutural s8050 da Keysight revoluciona a detecção de defeitos em ligações de fios por meio da tecnologia de teste capacitivo nVTEP. Ele oferece uma triagem precisa e em alta velocidade de circuitos integrados, detectando defeitos como quase-curto-circuitos, interferências e fios soltos que provavelmente escapariam aos métodos de teste convencionais. O s8050 permite que os fabricantes alcancem maior rendimento, reduzindo a dependência de inspeções por amostragem e, ao mesmo tempo, melhorando a qualidade geral do produto.

Testador de Estrutura Elétrica da Keysight

Este vídeo em destaque apresenta o Tester de Estrutura Elétrica (EST) da Keysight, que utiliza a tecnologia de ponta nano Vectorless Test Enhanced Performance (nVTEP) para oferecer recursos incomparáveis de detecção de defeitos. Ao criar uma estrutura capacitiva entre a ligação de fio e uma placa sensora, o EST da Keysight consegue identificar defeitos sutis, como flacidez do fio, quase-curto-circuitos e fios soltos, garantindo uma avaliação abrangente da integridade da ligação de fio.

Testador de integridade de ligação de fios para inspeção pós-moldagem em montagens de semicondutores de alto volume

O Testador de Estrutura Elétrica (EST) s8050 da Keysight funciona como uma estação de triagem de alto rendimento, otimizada especificamente para testes de pacotes de alto volume ligados por fios. Ele utiliza a tecnologia nano Vecterless Test Enhanced Performance (nVTEP) para detectar com eficiência defeitos em pacotes com fios. Ao utilizar esse método de teste avançado, o s8050 permite a identificação rápida de regiões do dispositivo em teste (DUT) que apresentam deformações significativas na ligação de fios, garantindo a detecção precoce de defeitos e a melhoria da qualidade de fabricação.

Soluções para projeto e teste de circuitos integrados

Desde o projeto até o teste funcional, acelere seu processo de projeto de circuitos integrados com software, hardware e serviços profissionais personalizados da Keysight. Obtenha ferramentas e soluções relacionadas a circuitos integrados, voltadas para diferentes etapas do ciclo de vida do projeto e dos testes de circuitos integrados.

Metodologias de teste estrutural elétrico de ligação por fio

A ligação por fio, um processo fundamental na microeletrônica, é essencial para estabelecer uma conexão elétrica robusta e de baixa resistência entre chips semicondutores e seus respectivos pacotes ou, no caso de módulos multi-chip, entre diferentes chips. A conexão é feita a partir da almofada de ligação no chip para uma almofada correspondente no substrato do pacote ou outro chip através da ligação meticulosa de um fio fino — geralmente composto por materiais como ouro, alumínio ou cobre. Esse processo complexo garante a funcionalidade, a confiabilidade e o desempenho geral do dispositivo. Vários métodos de teste de ligação de fios foram desenvolvidos e adotados para detectar defeitos em circuitos integrados (ICs) moldados em microeletrônica. No entanto, os métodos de teste atuais no mercado têm seus próprios pontos fortes e fracos; eles não são abrangentes, mas sim complementares entre si. Um método inovador chamado teste capacitivo foi desenvolvido para fornecer testes de ligação de fios mais abrangentes, detectando defeitos de ligação de fios que são invisíveis com os métodos de teste convencionais. Esses defeitos incluem quase curtos-circuitos, varredura de fios, flacidez de fios e muito mais.

Nova solução de teste de ligação por fio aumenta a confiabilidade dos circuitos integrados automotivos

Esta história de sucesso destaca como o Testador Elétrico Estrutural (EST) baseado em capacitância da Keysight permitiu que um dos principais fornecedores de serviços de montagem e teste (OSAT) eliminasse defeitos de ligação por fio em circuitos integrados automotivos. Ao detectar defeitos ocultos em grandes volumes, a solução reduziu as dispendiosas devoluções de produtos (RMAs), aumentou a confiabilidade e garantiu a segurança dos circuitos integrados de grau automotivo.

Medição de estruturas de CNT usando um analisador de semicondutores

O analisador de dispositivos semicondutores B1500A e o analisador de parâmetros de semicondutores de precisão 4156C oferecem uma solução de medição elétrica para a caracterização da estrutura de CNT.

SL1550A EV - Testador de interface de comunicação para carregadores EVSE

O Com Tester é um adaptador de teste totalmente integrado para controladores de comunicação de veículos elétricos (EVCC) ou controladores de comunicação de equipamentos de abastecimento (SECC), de acordo com o Sistema Combinado de Carregamento (CCS).

Série PD1550A

Esta ficha técnica descreve a solução PD1550A, um Analisador Dinâmico Avançado de Dispositivos de Potência / Testador de Pulso Duplo (DPT), utilizado para testar dispositivos discretos e módulos de potência baseados em semicondutores de banda larga para aplicações críticas de conversores de potência nos setores automotivo e de energia, tais como veículos elétricos, inversores fotovoltaicos e outros conversores de potência.

Acelere o desenvolvimento de seus dispositivos MEMS e a eficiência da fabricação utilizando os melhores instrumentos de teste de impedância do mercado

Esta brochura apresenta uma visão geral das capacidades da Keysight em testes de dispositivos MEMS e dá a conhecer aos clientes a solução de teste de impedância MEMS da Keysight.

Tolerâncias e limites de teste para componentes eletrônicos em testes em circuito

Para que todos os componentes montados funcionem corretamente, eles são medidos e analisados eletricamente por meio do testador em circuito, a fim de garantir que seus valores e desempenho sejam ideais.

Empresa do setor médico aumenta a integridade do sinal em sistemas de endoscopia de ultra-alta definição

O panorama médico passou por uma transformação drástica, com a endoscopia emergindo como uma ferramenta diagnóstica fundamental que revolucionou o atendimento ao paciente. A endoscopia utiliza um endoscópio flexível ou rígido, equipado com fonte de luz e câmera. Essa ferramenta diagnóstica permite o acesso a diversos sistemas de órgãos internos, proporcionando aos profissionais de saúde uma visão das estruturas anatômicas internas do corpo humano para avaliação diagnóstica e procedimentos minimamente invasivos, como a cirurgia laparoscópica. Esse procedimento versátil ampliou seu alcance a vários sistemas de órgãos, proporcionando aos profissionais de saúde uma visão abrangente das estruturas anatômicas internas. Uma empresa líder em tecnologia médica, especializada em endoscopia, produz continuamente um endoscópio que oferece imagens de alta qualidade para diagnóstico precoce e cirurgia minimamente invasiva. Com o advento do 4K e a iminente transição para imagens em 8K, a demanda por imagens de vídeo de alta definição é fundamental para a precisão dos procedimentos médicos. A equipe de P&D da empresa precisava garantir que a taxa de transferência de dados dessas imagens ultrapassasse 10 Gbps, um grande desafio técnico. Os especialistas em engenharia da Keysight recomendaram as soluções de projeto digital de alta velocidade, que incluem os osciloscópios da série Infiniium Z da Keysight, os testadores de taxa de erros de bits (BERTs) da Keysight, os analisadores de rede vetorial com refletometria no domínio do tempo (VNA-TDR) da Keysight e o software PathWave Advanced Design System (ADS) da Keysight.

O valor do testador em circuito

Este artigo discute como os testadores em circuito para PCBA podem desempenhar um papel significativo para aumentar o valor do produto e a eficiência da produção para os fabricantes de eletrônicos. Este artigo foi publicado pela primeira vez na edição de abril de 2011 da Circuits Assembly. Reproduzido com a gentil autorização do UP Media Group.

Teste de capacitores eletrolíticos com um testador em circuito

Uma descrição da solução de teste de polaridade alternativa para o capacitor eletrolítico montado no conjunto da placa de circuito da impressora usando o sistema i3070 ICT.

Dimensionamento de centros de dados de IA

O documento Scaling AI Data Centers explica por que a computação em escala de IA pressiona todas as partes do data center e por que remover uma restrição geralmente expõe a próxima. Ele apresenta uma estrutura de chip a cluster que abrange projeto pré-silício, wafers, chips e chiplets, placas, servidores, racks, data centers completos e implantações de borda. O documento posiciona a vantagem estratégica da Keysight Technologies como amplitude mais correlação: prever o comportamento do sistema antes que o hardware exista, mapear as margens físicas na camada de wafer e fotônica e, em seguida, validar as interconexões e cargas de trabalho em condições semelhantes às de produção. Em toda a pilha, ele destaca áreas de solução, como automação de projeto eletrônico para interconexão de chiplets e projeto fotônico, teste automatizado de wafer de silício e fotônica de silício, validação pós-silício para padrões die-to-die como UCIe e sinal em nível de placa, integridade de energia e depuração de interferência eletromagnética. Em seguida, passa para a validação de servidores e racks com análise de protocolo, fluxos de trabalho de transceptores Ethernet 800G e 1,6T, geração de tráfego em alta escala para padrões de treinamento e inferência e validação de transporte Ethernet para RoCEv2 e Ultra Ethernet. Em escala de data center e borda, adiciona emulação, testes de segurança e desempenho, análise de transporte óptico coerente, visibilidade de rede e validação sem fio e AI-RAN. Conclui que os desafios em várias camadas exigem conhecimento em vários níveis, combinando insights baseados em física com o contexto do sistema para ajudar as equipes a permanecerem confiantes e à frente das gerações.

Análise de falhas utilizando o B1500A com uma nanoprob

Aprenda a realizar análises de falhas e a testar transistores individuais utilizando o Analisador de Dispositivos Semicondutores B1500A com uma nanoprobe.