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HIGHLIGHTS
- Expandable, modular, multi-port, multi-user architecture with high port density
- Multilayer user-definable traffic generation and analysis at full wire speed
- Simultaneous data plane and fabric services test
- Configurable test port behavior to emulate various HBAs
- Device Virtualization capabilities help simulate a large scale SAN of 2000 devices within a 2U rack
- Port State machine control
- Error injection
- Real time performance measurement, including throughput, latency, lost frames, BB credit
1733A測試模組包含4個獨立、使用者可設定的光纖通道埠,執行速度為2或4 Gb/s。每個埠都能獨立設定和運作,並可同時提供以線路速度(line speed)產生流量和即時連續量測的能力。在執行測試期間進行現場量測的能力,可協助您即時掌握DUT的操作情況
- 可擴充、模組式、多埠、多使用者的結構,提供了較高的埠密度
- 以最大線速(wire speed)來產生及分析多層使用者定義流量
- 同時執行資料與交織網路(fabric)服務的測試
- 可設定的測試埠行為特性,能模擬各種HBA
- 元件虛擬能力可協助您在2U機架內模擬包含2000個裝置的大型SAN
- 埠的狀態機(State machine)控制
- 錯誤注入
- 即時的效能量測,包括速度、等待時間、遺失的訊框、BB credit
- 即時的鏈路錯誤量測,包括失去同步(loss-of-sync)和不等(disparity)錯誤
- 名稱伺服器測試
- 狀態變更通知等待時間(latency)測試
- 失敗轉接(Failover)復原
- 透過標準的TCL編輯語言,來自訂及自動執行測試
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