您可能感興趣的網頁。 觀看搜尋結果:

 

聯絡是德專家

1733A 4埠,2 & 4 Gb/s光纖通道測試模組

產品狀態: 已停產 | 查看服務選項
此產品已停產

此產品沒有替代產品。

主要技術規格

  • Expandable, modular, multi-port, multi-user architecture with high port density
  • Multilayer user-definable traffic generation and analysis at full wire speed
  • Simultaneous data plane and fabric services test
  • Configurable test port behavior to emulate various HBAs
  • Device Virtualization capabilities help simulate a large scale SAN of 2000 devices within a 2U rack
  • Port State machine control
  • Error injection
  • Real time performance measurement, including throughput, latency, lost frames, BB credit

敘述

1733A測試模組包含4個獨立、使用者可設定的光纖通道埠,執行速度為2或4 Gb/s。每個埠都能獨立設定和運作,並可同時提供以線路速度(line speed)產生流量和即時連續量測的能力。在執行測試期間進行現場量測的能力,可協助您即時掌握DUT的操作情況

  • 可擴充、模組式、多埠、多使用者的結構,提供了較高的埠密度
  • 以最大線速(wire speed)來產生及分析多層使用者定義流量
  • 同時執行資料與交織網路(fabric)服務的測試
  • 可設定的測試埠行為特性,能模擬各種HBA
  • 元件虛擬能力可協助您在2U機架內模擬包含2000個裝置的大型SAN
  • 埠的狀態機(State machine)控制
  • 錯誤注入
  • 即時的效能量測,包括速度、等待時間、遺失的訊框、BB credit
  • 即時的鏈路錯誤量測,包括失去同步(loss-of-sync)和不等(disparity)錯誤
  • 名稱伺服器測試
  • 狀態變更通知等待時間(latency)測試
  • 失敗轉接(Failover)復原
  • 透過標準的TCL編輯語言,來自訂及自動執行測試