主要技術規格
將 LCA 量測輕鬆地整合到 TAP 測試序列中
- 光學/電氣、電氣/光學和光學/光學頻譜量測的測試步驟
- 具單端或平衡射頻埠的元件測試步驟
- 針對量測設定、校驗和解嵌入，提供清晰的步驟配置
- 在 TAP 結果檢視器中提供結果顯示樣板
支援的儀器
- 基於 PNA 的光波元件分析儀：
- N4373E、N4373D、N4373C、N4373B
- N4375E、N4375D、N4375B
- N4376E、N4376D、N4376B
敘述
Keysight Test Automation on PathWave（TAP）是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體，可單獨使用，或是與高階測試執行軟體環境結合使用。您可將儀器外掛程式提供的測試步驟新增至工作流程序列，無需使用儀器級編程指令。LCA 外掛程式可藉由處理 PNA 儀器和 LCA 光學硬體與軟體的介接，進一步簡化自動化流程。藉由在測試步驟中提供 LCA 量測所需的 PNA 設定，輕鬆進行配置。
