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RF PA/FEM 特性分析與測試的參考解決方案

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配置

價格: 台灣

* 價格如有變動,恕不另行通知。 此處所列價格為製造商建議零售價格(MSRP)

主要技術規格

功能

  • 自動執行數位預失真和波封追蹤,實現快速的設計和特性分析
  • 利用即時信號處理功能來執行快速量測
  • 透過功率與解調變量測來驗證無線標準相容性
  • 利用多個連接埠,對複雜元件執行完整的 S 參數量測

效能

  • 快速伺服迴路收斂: < 3 ms(標稱值)
  • 快速 ACPR 量測: < 500 µs(標稱值)
  • 快速全雙埠 S 參數量測: < 41 ms(標稱值)
  • 快速 DPD 開迴路量測: < 1 s(標稱值)

量測應用程式與軟體

  • 利用 Signal Studio 產生 Keysight 經驗證且效能最佳化的參考信號(採用蜂巢式和無線連接標準)。
  • 利用 Signal Studio for Power Amplifier Test 產生 Keysight 經驗證且效能最佳化的功率放大器測試流程,具備波峰因數抑制(CFR)、波封追蹤(ET)以及數位預失真(DPD)功能。
  • 模組化儀器適用的 X 系列量測應用軟體可將 PXI 向量信號分析儀轉換為標準導向的射頻發射器測試儀。
  • 功率放大器測試程式庫、測試程式範例、儀器控制程式庫,再搭配示範與評估 GUI,可幫助您加快測試開發工作,同時也方便整合到您的測試環境中。

敘述

RF PA/FEM 特性分析和測試的參考解決方案可對新一代功率放大器與前端模組進行設計驗證和產品測試,以提供高量測速率、品質與效能,並支援蜂巢式和無線連接標準。

此參考解決方案可協助功率放大器(PA)與前端模組(FEM)製造商因應所面對的兩大測試挑戰: 降低成本並提昇資料傳輸速率。 為了解決高峰均功率比調變格式所帶來的測試效率問題,製造商開始採用更複雜的測試技術,譬如波封追蹤(ET)和數位預失真(DPD)。但這些技術仍需滿足前述的兩大測試挑戰。 全雙埠 PXI VNA 可對 FEM 的被動元件進行特性分析,並可針對新一代 PA 進行完整特性分析。 控制軟體可讓信號源和任意波形產生器(AWG)達成緊密的同步,進而精準對齊輸入信號和波封信號。

精心設計的測試碼範例可將測試速率最佳化,但又不會導致效能下滑,以便快速進行評估並全面整合入您的測試環境中。

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