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55280A 線性量測套件

售貨廠商:

配置

價格: 台灣

* 價格如有變動,恕不另行通知。 此處所列價格為製造商建議零售價格(MSRP)

主要技術規格

量測範圍

  • 線性光學達 40 公尺(130 英呎)
  • 長距離選項達 80 公尺(260 英呎)

準確度

  • 溫度範圍:攝氏 0 - 40ºC(華氏 32 - 104°F)
  • E1738A 空氣感測器:±0.4 ppm
  • 真空下†:±0.1 (±0.02) ppm

如果 5519A/B 雷射頭以 MIL-STD 45662A 校驗,†真空準確度為 ±0.02 ppm

解析度

  • 線性光學(10766A):1 nm (0.04 µin)
  • 平面鏡射光學(10706A/B)*:0.5 nm (0.02 µin)
  • 高解析度平面鏡射光學(10716A)*‡:0.25 nm (0.01 µin)

* 需搭配 10724A 平面鏡射反射器。由於這些光學校準比線性光學要敏感地多,建議線性光學只使用於典型案例。
‡ 10716A 的孔徑距離為 12.7 mm,5519A 則為 11 mm。
 

敘述

Keysight 5530 雷射校驗系統搭配 Keysight 55280A 線性量測套件使用,包括量測線性距離(位移)和速度所需的光學設備。此套件包含一個 Keysight 10766A 線性干涉儀、兩個 Keysight 10767A 線性復歸反射器、硬體基座和硬質攜帶箱。
系統可量測干涉儀和復歸反射器之間的距離變化。在移動之前,任何一點都可定義為量測起始點。
Keysight 55280A 可用來校驗數控工具機和坐標量測儀的定位準確度。藉由其極高的準確度和解析度,它可以用來做為校驗長度標準的實際(業界)標準。