是德科技是全球參數測試系統領導品牌
參數測試解決方案
縮短產品上市時間、降低測試成本
- 藉由提高量測產能來降低測試成本
- 克服研發和生產階段的測試挑戰
- 更精確的低位準量測效能
- 通過全球眾多客戶實證的解決方案
- 由技術純熟的工程師提供全球支援資訊
- 轉換成本極低的各式解決方案
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比較系列 / 產品
| 系列 / 產品 | 最大量測針腳數 | 最小電流量測解析度 | 最小電壓量測解析度 | 最大 SPGU 輸出通道數 | Parallel Parametric Test Capability |
|---|---|---|---|---|---|
| 4082A 參數測試系統 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
| 4082F 快閃記憶體單元參數測試系統 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
| 88000 HS-100B 高速和靈敏度 TFT 陣列測試系統 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
| 88000 HS-500 高速和靈敏度 TFT 陣列測試系統 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
| NX5730A 高速率 1 ns 脈衝 IV 記憶體測試解決方案 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
| P9001A 大規模並聯參數測試系統 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
| P9002A 並聯參數測試系統 | n/a | n/a | n/a | n/a | n/a |
軟體
* 價格: 繁體中文. 價格如有變動，恕不另行通知。 此處所列價格為製造商建議零售價格（MSRP）
