這是我們認為您想查看的頁面.
觀看搜尋結果:
Choose a country or area to see content specific to your location
尋找感興趣的產品?
建議的搜尋
No product matches found - System Exception
相關內容
欲對半導體元件執行準確的 DC/CV(和射頻)統計建模,您需收集不同晶圓在各種溫度下進行量測所得到的大量資料。Keysight IC-CAP WaferPro 作為統包式 DC/CV 與射頻自動化分析解決方案,可協助建模和元件工程師,在不同溫度下實現更有效率的晶圓上量測。此突破性解決方案基於 IC-CAP 建模軟體,可有效率控制 DC/CV 分析儀、網路分析儀、探測器、切換矩陣和溫度吸盤,以及功能強大的是德科技 407x 和 408x 系列 參數測試儀。
如需更多資訊,
- 請參考 W8510EP IC-CAP WaferPro。您也可以選擇包含必要 IC-CAP 產品的 WaferPro 套裝軟體(W8511BP )。
- WaferPro 白皮書:IC-CAP WaferPro:IC-CAP 提供全新的軟體環境,以支援自動化 DC/CV 和射頻量測
- 應用說明:使用 IC-CAP 進行自動化量測
更多關於 IC-CAP 元件建模軟體的詳細資訊,請瀏覽 IC-CAP 元件建模軟體。
Featured Resources for 晶圓上量測
Want help or have questions?