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Keysight Medalist i1000

內電路測試 (ICT) 系統中的 Keysight Medalist i1000,是低成本的內電路測試解決方案,適用於只需「恰好足夠測試」的原廠設計製造商。不同於製造業的缺陷分析儀測試系統,和其他是德首創早期研發部署產生的 TestJet 技術 之 ICT 系統,Keysight Medalist i1000 則提供尖端是德 VTEP v2.0 動力無向量測試套件,包括屢獲殊榮的 iVTEP 和網路參數量測技術。這些特色提供了無可比擬的微球柵式陣列構裝和覆晶涵蓋範圍,以及接頭的電源和接地接腳 (常見於數位消費性產品和桌上型電腦中)。

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是德無向量測試解決方案 - 採用 Medalist VTEP v2.0 動力

Keysight Medalist Bead Probe Technology

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    U9403A 小型內電路測試系統

    Keysight U9403A 小型 ICT 系統可提供全面的 ICT 功能,例如 VTEP、邊界掃描和待測元件功率控制,而且體積只有 5U。它可以獨立運作,或與內部或外部定序器搭配運作。U9403A 支援 SCPI 介面,可輕易地整合功能測試。

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    U9405A Medalist i1000D Small Foot Print Inline and Offline In-Circuit Systems

    • The smallest foot print that meets your factory floor plans.
    • Investment protection with upgradeable offline to inline feature.
    • Best fit for automotive manufacturing with high component clearance.
    • No more gray area between handler vendor and ICT vendors. Keysight gives you all.

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    U9401B Medalist i1000D

    Keysight U9401B 是內電路測試 (ICT) 系統,提供每接腳可程式設計數位卡,以支援使用低成本夾具解決方案,進行邊界掃描、序列程式設計與使用低成本夾具解決方案的 VCL/PCF 程式庫數位測試。

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    PCB 測試與檢查服務

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