相位雜訊量測系統
是德的相位雜訊量測系統，是量測超低雜訊的本地振盪器之特殊頻譜分析儀。使用這些儀器，可以獲得準確的相位雜訊資料。
相位雜訊會限制您可以從設計與系統中準確量測的信號。是德的相位雜訊量測解決方案，可讓您迅速地分析及解決相位雜訊的問題。
Keysight E5500系列相位雜訊量測解決方案，可以簡化單埠VCO、DRO、晶體振盪器與合成器的相位雜訊量測。E5500A可縮短生產ATE的測試時間並提供最快的測試，而E5500B則為研發應用提供了最完善的能力。
Keysight 4352S VCO/PLL信號測試系統為VCO和PLL合成器提供了完整的相位雜訊與特性分析，這對於設計現今的無線通訊設備中的合成本地振盪器來說十分重要。4352S同時適用於實驗室與功能測試環境，它提供了一個完善的量測與測試解決方案。
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N5511A Phase Noise Test System, 50 kHz to 40 GHz (1)
N5511A Phase Noise Test System, 50 kHz to 40 GHz
- Measure phase noise at the limits of the laws of physics using best-in-class sensitivity
- Flexible architecture lets you integrate exceptional reference sources—yours or ours—and confidently solve specific challenges faster
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E5052B SSA 信號源分析儀，10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz (1)
E5052B SSA 信號源分析儀，10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz
- 10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz
- 在分析 VCO 或其他類型的高頻信號源時提供超高的速度和出色的易用性
- 時脈抖動評測
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E5053A 微波降頻器，3 GHz 至 26.5 或 110 GHz (1)
E5053A 微波降頻器，3 GHz 至 26.5 或 110 GHz
26.5 GHz 微波降頻器可與 E5052A/B 信號源分析儀搭配使用，以便結合 110 GHz 相位雜訊與毫米波混頻器。
