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相位雜訊量測系統

是德的相位雜訊量測系統,是量測超低雜訊的本地振盪器之特殊頻譜分析儀。使用這些儀器,可以獲得準確的相位雜訊資料。

相位雜訊會限制您可以從設計與系統中準確量測的信號。是德的相位雜訊量測解決方案,可讓您迅速地分析及解決相位雜訊的問題。

Keysight E5500系列相位雜訊量測解決方案,可以簡化單埠VCO、DRO、晶體振盪器與合成器的相位雜訊量測。E5500A可縮短生產ATE的測試時間並提供最快的測試,而E5500B則為研發應用提供了最完善的能力。

Keysight 4352S VCO/PLL信號測試系統為VCO和PLL合成器提供了完整的相位雜訊與特性分析,這對於設計現今的無線通訊設備中的合成本地振盪器來說十分重要。4352S同時適用於實驗室與功能測試環境,它提供了一個完善的量測與測試解決方案。

按此處,以查看各種相位雜訊量測系統的比較資訊

比較所有相位雜訊量測系統 (4)

  • N5511A Phase Noise Test System, 50 kHz to 40 GHz N5511A Phase Noise Test System, 50 kHz to 40 GHz (1) 

    N5511A Phase Noise Test System, 50 kHz to 40 GHz

    • Measure phase noise at the limits of the laws of physics using best-in-class sensitivity
    • Flexible architecture lets you integrate exceptional reference sources—yours or ours—and confidently solve specific challenges faster

  • E5505A 相位雜訊量測解決方案,50 kHz 到 110 GHz E5505A 相位雜訊量測解決方案,50 kHz 到 110 GHz (1) 

    E5505A 相位雜訊量測解決方案,50 kHz 到 110 GHz

    E5505A 是一個彈性、模組化的相位雜訊量測解決方案,可讓您依據不同的需求來選擇各種系統元件。

  • E5052B SSA 信號源分析儀,10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz E5052B SSA 信號源分析儀,10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz (1) 

    E5052B SSA 信號源分析儀,10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz

    • 10 MHz 至 7 GHz、26.5 GHz 或 110 GHz
    • 在分析 VCO 或其他類型的高頻信號源時提供超高的速度和出色的易用性
    • 時脈抖動評測

  • E5053A 微波降頻器,3 GHz 至 26.5 或 110 GHz E5053A 微波降頻器,3 GHz 至 26.5 或 110 GHz (1) 

    E5053A 微波降頻器,3 GHz 至 26.5 或 110 GHz

    26.5 GHz 微波降頻器可與 E5052A/B 信號源分析儀搭配使用,以便結合 110 GHz 相位雜訊與毫米波混頻器。

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