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限制存取的測試產品

隨著更複雜更小型的幾何形狀組件、測試存取受限、更短的產品生命週期和更緊縮的預算,使得電路板設計日益複雜,消費性電子產品也愈來愈小。

是德動態測試接入套件,為較小幾何形狀和擁擠的電路板提供了自動測試和夾具解決方案,以解決 ICT 系統中嚴重的存取問題。

以下為可協助您利用較少接腳獲得更大涵蓋範圍的一些技術。

  • 在是德 Medalist ICT 系統上進行的是德互連及邊界掃描 ─ 提高日益複雜裝置的測試能力。是德的邊界掃描解決方案提供了一項快速、自動的通過/失敗測試,以及可快速維修的接腳電位診斷。是德是全球邊界掃描的主要先驅之一,例如:BSDL 標準的發明,此為 IC 廠商提供的一個檔案,其中描述了邊界掃描測試單元,以及這些單元配置的方式。
  • 自動 Silicon Nails ─ 採取 I EEE1 149.11 單一步驟,以進一步利用邊界掃描鏈自動測試非邊界掃描裝置。
  • Keysight DriveThru ─ 利用現有的是德 TestJet 技術探棒,讓您驗證串列終端元件現存的問題。
  • MagicTest ─ 自動產生被動類比元件的叢集測試,同時提供深入元件層的診斷。
  • Keysight Access Consultant ─ 使用 Keysight Magic Test、Keysight Interconnect,以及 Boundary Scan 和在 Keysight 30700 測試中的其他工具所收集到的分析資料,以引導您進行最有效的探棒部署。
  • Keysight AwareTest ─ 讓您實現更廣泛的測試涵蓋範圍、更低的成本,以及更高的效率,以透過連接製造廠多個測試單元的方式,更快地讓產品上市。即使電路板日益複雜或是節點存取消失,是德 AwareTestxi 仍可輕易整合 ICT 系統和 AXI 技術,以增加故障涵蓋範圍。
  • Access Consultant Access Consultant 

    Access Consultant

    Software that ties all the different limited-access tools together to let you better manage which strategy suits your needs better

  • Bead Probe Technology Bead Probe Technology 

    Bead Probe Technology

    Increase test access even on high-speed traces and space-constrain PCBAs. Its layout independent nature means that trace-routing is not disrupted with the addition of bead probes unlike how test pads do

  • DriveThru DriveThru 

    DriveThru

    Used in conjunction with VTEP, DriveThru gives the user the ability to test both a device pin and the passive component leading to the device pin with just 1 test point

  • IEEE 1149.1 InterconnectPlus Boundary Scan IEEE 1149.1 InterconnectPlus Boundary Scan 

    IEEE 1149.1 InterconnectPlus Boundary Scan

    Compliant to the IEEE 1149.1 standard, this Keysight boundary-scan solution provide a fast, automated pass/fail test along with pin-level diagnostics for speedy repair.

  • IEEE 1149.6 Boundary Scan IEEE 1149.6 Boundary Scan 

    IEEE 1149.6 Boundary Scan

    Extend boundary scan to test high-speed AC-coupled differential signals in accordance to IEEE

  • Silicon Nails Silicon Nails 

    Silicon Nails

    Test non-boundary scan devices by using devices which are boundary scan-enabled to act as driver/receivers.

  • N1169A-003 Cover-Extend Technology N1169A-003 Cover-Extend Technology 

    N1169A-003 Cover-Extend Technology

    Hybrid technology between the VTEP vectorless capacitive coupling technology and boundary scan.

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