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    • 超过 10 mW 的信号功率和更低的自发发射
    • 在所有的扫描速度上都具有更高的波长精度、可重复性和分辨率
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    • 绝对精度高达 ±3 pm 典型值
    • 双向扫描速度高达 200 nm/s
    • 低 SSE 实现卓越的隔离测量范围
    • 适用于无源光器件的高吞吐量测试和自动调节

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    • > +12 dBm(典型值)峰值功率和低 SSE
    • 绝对精度高达 ±5 pm 典型值,扫描时高达 ±10 pm
    • 双向扫描速度高达 200 nm/s
    • 适用于经济高效的元器件生产测试和相干传输实验

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    • 在 300 ms 内以 1 nm 步进,包括稳定
    • ±3 pm(典型值)波长可重复性
    • > +12 dBm(典型值)峰值功率和低 SSE
    • 适用于经济高效地测试宽带光器件