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E5904B-500 选件500, FPGA 示踪端口分析仪

产品状态: 已淘汰 | 查看服务选项
此产品已经停产

没有可替代产品

主要特性与技术指标

Features

  • Collect deep memory traces (up to 2M states on each acquisition channel)
  • Efficiently debug using a fraction of the normally required debug pins
  • Synchronous trace capture up to 200MHz

描述

您能用强大的Keysight FPGA迹线端口分析仪快速和精确地调试包含大型快现场可编程门阵列(FPGA)的系统。Keysight和Xilinx已联合提供这一高价值的解决方案,它兼具Xilinx ChipScope芯片上逻辑和总线分析,以及Keysight快和深外部迹线存储的优点 - 其价格也能适应您的预算。该解决方案支持Xilinx Spartan-II, Spartan-IIE, Virtex, Virex-E, Virtex II 和 Virtex-II Pro FPGA,组合了Keysight FPGA迹线端口分析仪、Keysight迹线内核和Xilinx ChipScope Pro工具的强大能力。

FPGA迹线端口分析仪解决方案扩展了ChipScope Pro工具的能力,可帮助您以很高的效率找到电路内的功能缺陷,其售价也在您的预算内。

要了解有关Xilinx FPGA的详细情况,请访问: Xilinx的ChipScope Pro软件