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* 价格如有变更,恕不另行通知。 显示价格为厂商建议零售价(MSRP)。

描述

IC-CAP Wafer Professional 测量软件(WaferPro)是一款完整的自动测量应用软件,可以完全集成到 IC-CAP 平台上,适合从事直流/CV 和射频测量的器件建模工程师使用。WaferPro 由是德与主要的半导体公司联合设计, 它充分利用了 IC-CAP 强大的测量和编程环境,支持高效的测量程序库(内置程序库和用户定义程序库),例如可显著缩短总体测量时间并提高效率的自适应测量算法。它的操作极为简单,并拥有足够的定制性和灵活性,通过调整与优化后可适用于各种测试和测量环境。

主要特性

• 在多个温度变化范围内进行全自动单晶圆和多晶圆测量
• 为最常见的探针台、开关矩阵和热控夹具提供驱动程序
• 支持全晶圆映射
• 通过 Keysight 407X 和 408X 参数测试系统支持快速测量
• 包括许多预定义的实例测试方案,可以快速、轻松、高效地开始测试
• 无需操作人员监管,晶圆可随温度变化自动进行调整
• 无需中断测试,即可实时查看测量结果、状态、数据和图表
• 在执行过程中监测位置、状态、结果和数据;通过电子邮件接收更新
• 按照用户定义的合格/不合格标准,完美地进行异常处理
• 先进的体系结构支持有效的数据组织以及快速的数据分析和处理
• 通过采用各种硬件,在不同的测试站中无缝地运行测试方案
• 支持广泛的直流/CV 和射频测量
• 能够测量任何 n 端接器件(MOS、二极管、无源器件等)
• 能够以多种文件格式(.mdm 和 .csv)保存
• 具有测试模式(运行仿真而不是测量)和后期处理模式,以提高测试和开发的灵活性
• 拥有强大的调试模式,以进一步支持定制和测试

IC-CAP WaferPro 是一款结合了 IC-CAP 和其他测试设备的测量解决方案,能够有效地协调完整的测试环境,控制和指定晶圆映射、器件、测试条件、校准和所收集的数据,并自动保存数据文件,且支持各种文件格式。

WaferPro 可轻松进行导航和定制。对于典型的测试方案项目,用户可首先定义晶圆映射,然后指定晶圆特征,例如基板和基片位置、被测件的类型和特征,以及按照所用硬件的类型指定引脚或探头卡参考。随后,用户可以根据测试需求和目的以及测量应用类型、地点、扫频、直流和射频等,对器件进行分组和区分。

用户可在 IC-CAP 模型环境中完整地定制和定义测量程序,并充分利用现有的 PEL 码对所测结果进行后期处理(例如,计算 fT、gmax 或 Vt)。运行测试方案时,屏幕上将显示一条记录,并且该记录会随着测量结果不断更新。用户可在历史日志中轻松选择某一行,以查看特定器件的测量数据。

总之,IC-CAP WaferPro 能够:

• 为建模工程师提供功能强大的测量和表征测试方案套件
• 即时地与多个工作台和测试站配合工作,包括是德参数测试仪
• 支持必要程度的定制,最大程度地提高测量效率
• 为先进的统计分析和建模建立基础

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