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86100C-202 增强阻抗和 S 参数软件

产品状态: 已停产 | 尚提供支持
此产品已经停产

主要特性与技术指标

快速、精确地测量 S 参数:

  • 完整的单端和差分 S 参数―― 手册
  • 精确地测量回波损耗、插入损耗(衰减)、近端串扰(NEXT)、远端串扰(FEXT)、相位和群延迟
  • 先进的校准技术可以消除电缆和夹具带来的不利影响,提高测量精度
  • 可以Touchstone格式或 .txt 格式导出结果

用于各种应用中的故障诊断和一致性测量:

  • USB
  • SATA/SAS
  • PCI Express
  • 定制的电气设计等

为新用户提供了便于使用的功能,同时还为专家提供了先进的特性:

  • 视频指南――帮助临时用户执行精确的测量,而不会影响到高级用户
  • 一键式测量――快速、轻松地在时域(阻抗)和频域(S 参数)之间进行转换
  • TDR 萃取――消除多重反射带来的不利影响

精确的 TDR/TDT 测量:

  • TDR 校准――可消除电缆和夹具带来的不利影响
  • 可调整的有效上升时间――使用与设计匹配的边沿速度测量阻抗
  • 非匹配的TDR 步进对称――可降低测量误差
  • 快速步进(9ps 上升时间)和 >70GHz 带宽――可通过皮秒脉冲实验室边沿加速器和 86118A 远程采样探头获得

描述

全面的通道验证――轻松完成

86100C-202 增强阻抗和 S 参数软件补充了 86100C TDR/TDT 模式的不足,提供了一款完全集成且经过校准的实时 TDR 和 S 参数测量解决方案。

TDR/TDT 和 S 参数的用途包括:

  • 信号完整性(SI)工程:缩短设计周期――精确地在时域和频域中表征单端和差分阻抗
  • 一致性测量――确保您的器件符合技术指标
  • 过程控制:保持印刷电路板(PCB)和无源器件制造的稳定质量
  • 故障定位:确定短路、开路或其他中断点的位置,从而维修被测件或进行深入分析以便于改进

使用 86100C DCA-J 上直观的用户界面,可以非常容易地设置和执行 TDR/TDT 和 S 参数测量。

TDR/TDT and S-Parameter measurements Img

图 1 – 直观的用户界面使您可以轻松设置和执行精确的 TDR 和 S 参数测量。

Calibrated single-ended Image


图 2 – 实时计算和显示经校准的单端(如图中显示)和差分 S 参数测量结果。

TDR 校准(不是必需的,但是我们推荐您执行这种校准)是获得精确的 S 参数测量结果的基础。当使用 86100C-202 执行 S 参数测量时,其测量结果与矢量网络分析仪(VNA)的测量结果(行业标准)非常吻合。。

S11 and S21 measurements



图 3 – S11(左)和 S21(右)测量显示 VNA 与 TDR 结果正好吻合。

是否需要使用具有 9ps 上升时间的 TDR 边沿和远程采样探头?
86100C 用户界面支持外部边沿加速器和远程采样探头,该探头能够提供亚毫米波双事件分辨率和 50 GHz的 S 参数测量。皮秒脉冲实验室 4022 边沿加速器和 Keysight 86118A 双电 70 GHz 远程探头采样器提供了目前市场上最快的 TDR/TDT 系统。

升级现有的 86100C DCA-J――订购 86100CU-202!
如果您已经拥有 86100C DCA-J 和 54754A 差分 TDR 模块,并且想要添加增强阻抗和 S 参数功能,请购买 86100CU-202。