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特点

提供

  • 连接 16900 系列逻辑分析系统和 DDR2 x8 DRAM，以电气和机械非侵入方式探测所有信号
  • 可探测现有设计中的 DDR2 信号，无需重新设计或提前规划
  • 能够使用含铅或无铅焊料
  • 通过 DDR2/DDR3 眼图查找器（eye finder）和眼图扫描进行准确测量和信号完整性分析

信号探测

  • 与 E5384A ZIF 探头配合使用，可探测一个 x8 DRAM 的控制、命令、地址和数据总线上的信号
  • 与 E5826A ZIF 探头配合使用，可探测一个 x8 DRAM 的数据总线上的信号
  • W2633B BGA 探头和 ZIF 探头的数量取决于 DRAM 的类型、数据带宽和被探测的总线

可兼容

  • DDR2 BGA 封装：x8（84 球）所有信号
  • 16950B 逻辑分析仪（适用于速度 ≤667 MT/s 的DDR2）和 16962A 逻辑分析仪（适用于所有速度）（逻辑分析仪模块的数量请参阅技术资料）
  • B4621A DDR2/DDR3 总线解码器 B4621AB
  • B4622A DDR2/DDR3 协议合规性测试和分析工具 B4622AB

要求

  • E5384A ZIF 探头，用于探测一个 x16 DDR2 DRAM 的控制、命令、地址和数据总线上的信号，以及连接到逻辑分析仪 E5384A
  • E5826A ZIF 探头，用于探测一个 x16 DDR2 DRAM 的数据总线上的信号，以及连接到逻辑分析仪 E5826A
  • 采用 ZIF 连接，为柔性“翼”保留的空间（KOV）非常小——参见安装指南

2009 年最佳测试奖获得者

用于逻辑分析仪和示波器的 Keysight DDR2 BGA 探头能够与 Keysight U4154A 和16900 系列逻辑分析系统以及 80000/90000 系列示波器配合使用，使您能够查看符合行业标准的 DDR2 DIMM 上的数据流量。

想要深入了解 W2633B？

关于 W2633B DDR2 X8 BGA 命令和数据探头（用于逻辑分析仪和示波器，每套 4 个探头）的特色资源

Data Sheets 2017.12.01

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Keysight W2630A series DDR2 BGA probes for logic analyzers and oscilloscopes enable viewing of data traffic on industry standard DDR2 DRAMs with the Keysight 16900 Series logic analysis system and Infiniium 80000 Series oscilloscopes.

2017.12.01

Data Sheets 2017.12.01

U4154A AXIe-based Logic Analyzer Module

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The U4154A AXIe-based logic analyzer system combines reliable data capture with powerful analysis and validation tools to help you validate and debug high speed digital designs operating up to 4 Gb/s.

2017.12.01

Installation Guides 2016.08.01

Keysight W2630 Series DDR2 DRAM BGA Probes Installation Guide

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Instructions for connecting and using the DDR BGA probes.

2016.08.01

Brochures 2017.12.02

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Brief overview of Keysight solutions for DDR design and test.

2017.12.02

Brochures 2014.07.31

DDR Memory Design and Test – A Better Way

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Keysight offers the complete solutions for all areas of DDR design, meeting your needs for electrical physical layer, protocol layer, and functional test.

2014.07.31

Data Sheets 2017.12.01

N5413B and N5413C DDR2 and LPDDR2 Compliance Test Application

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The N5413B and N5413C DDR2 and LPDDR2 compliance test application provides a fast and easy way to test, debug and characterize your DDR2 and LPDDR2 designs.

2017.12.01

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