- 可重复测量解决方案
- 精确、可靠的测量系统
- 快速、高效、易于使用的自动提取例程,充分发挥 IC-CAP 最新增强和全新特性
1/f 噪声或 Flicker 噪声是重要的低频噪声源。 深亚微米 CMOS、BJT、FET 和 HBT 器件以及射频无源器件的 1/f 噪声精确测量和建模,是射频电路设计的关键。
1/f 噪声作为振荡器设计中的相位噪声,在与振荡频率混合时会导致振荡器出现不稳定。 具有噪声的本地振荡器信号会降低接收机的有用动态范围和选择性,使其难以从噪声中恢复信号。
IC-CAP 的 1/f 噪声套件可提供灵活的开放式提取程序。 模型文件包括可以自动执行测量和提取流程的设置和向导,从而构建一键式解决方案。 例如,通信用户界面层包括知道您逐步完成整个测量、提取和仿真过程的对话。