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N4376B 20/26.5 GHz 多模 850 nm 光波元器件分析仪(LCA)

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此产品已经停产

主要特性与技术指标

绝对频率响应度精度

  • 20 GHz 时,±2.0 dBe(典型值)

相对频率响应度精度

  • 20 GHz 时,±1.5 dBe
  • 20 GHz 时,±1.0 dBe(典型值)

本底噪声

  • < -69 dB (W/A),用于 E/O 测量
  • < -68 dB (A/W),用于 O/E 测量

光波长

  • (850 ± 10) nm
  • 1060 nm;如需其它波长,可与工厂联系

描述

光波元器件分析仪软件版本 2.3

迄今为止,人们仍然无法在 850 nm 的目标波长上测试短距离多模电光元器件。
新型多模光波元器件分析仪可对所有相关电光 S 参数进行测试,例如在多模条件下的 S21、S11 或 S22。

典型应用包括对短距离 FCx8、FCx10 、FCx16 和 10GbE 进行 S 参数测试。 除现行的标准之外,LCA 还可以测试光计算机、服务器背板以及未来高端计算机芯片间连接的超短距离电光元器件。

优势

  • 能够在 850 nm 目标波长上进行可追溯的多模 S21 表征,获得可重复的测试结果。
  • IEEE 802.3ae 兼容性启动功率分配,确保获得真实的应用测试结果。
  • 无需额外的光校准,使用电子校准件进行快速、精确的校准。
  • 支持 50 um 光纤和 62.5 um 光纤元器件。
  • 内置平均功率计。
  • 用户可选择的光发射机输出功率帮助您适应目标测试条件