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  • no image available 模拟测试 

    模拟测试

    除了基本的在线测试功能,还提供最稳定、可重复且可转移的模拟在线测试能力。

  • 3070 In-circuit Test 数字测试  

    数字测试

    矢量数字测试支持最通用、灵活的数字测试能力,可以对最复杂的数字器件进行电气测试。

  • Agilent Medalist i3070 E9902D 2 模块 ICT 系统,i307x [已停产] 

    E9902D 2 模块 ICT 系统,i307x [已停产]

    对于那些电路板的测试点数目较少的客户来说,i3070 双模块系统是理想的选择,它可轻松升级到完整的 4 模块系统。

  • E9903D 4-module In-Circuit Test System i307x E9903D 4 模块 ICT 系统,i307x [已停产] 

    E9903D 4 模块 ICT 系统,i307x [已停产]

    4 模块 ICT 系统可为当今复杂的电子组件提供 i3070 系列中可支持的最大测试节点数目。

  • E9905D 2-module In-Circuit Test System i327x Plus E9905D 2 模块 ICT 系统,i327x Plus [已停产] 

    E9905D 2 模块 ICT 系统,i327x Plus [已停产]

    小型 i317x 系统适合空间紧张的客户使用。该系统采用内置电源,可最大程度地节省空间。

  • E9905E 2-Module ICT system i307x series 5 E9905E 2 模块在线测试(ICT)系统――i307x 系列 5 

    E9905E 2 模块在线测试(ICT)系统――i307x 系列 5

    E9905E 支持最多 2592 个测试点,以及新的系列 5 基础架构,适用于灵活的外部电子设备连接和更高的模拟测试速度

  • E9902E 2-Module ICT system i307x series 5 E9902E 2 模块在线测试(ICT)系统――i307x 系列 5 

    E9902E 2 模块在线测试(ICT)系统――i307x 系列 5

    E9902E 提供最多 2592 个节点测量,以及新的系列 5 基础架构,适用于灵活的外部电子设备连接和更高的模拟测试吞吐量

  • E9903E 4-Module ICT system i307x series 5 E9988EL In-Line 2 模块在线测试(ICT)系统;i337x,系列 5i 

    E9988EL In-Line 2 模块在线测试(ICT)系统;i337x,系列 5i

    • 短线夹具技术确保可转移性、可重复性和稳定性
    • 创新型设计确保易维护性和夹具更换
    • 紧凑型机箱,长度只有 800 毫米或 31.5 英寸

  • E9903E 4-Module ICT system i307x series 5 E9988E In-Line 2 模块在线测试(ICT)系统;i337x,系列 5i 

    E9988E In-Line 2 模块在线测试(ICT)系统;i337x,系列 5i

    • E9988E 提供最多 2592 个节点测试,满足严格的 SMEMA 兼容性要求,可轻松集成到现有的 SMT 生产线

  • E9905E 2-Module ICT system i307x series 5 E9905EL 2 模块在线测试(ICT)系统 ― i307x 系列 5 

    E9905EL 2 模块在线测试(ICT)系统 ― i307x 系列 5

    • 最大节点数:2592
    • 最大通道数:576
    • 占用面积:0.93m(高)x 0.95m(宽)x 0.77(深)

  • E9903E 4-Module ICT system i307x series 5 E9903E 4 模块在线测试(ICT)系统,i307x 系列 5 

    E9903E 4 模块在线测试(ICT)系统,i307x 系列 5

    E9903E 提供多达 5184 个测试点以及新的系列 5 基础架构,适用于灵活的外部电子设备连接和更高的模拟测试速度

  • E9901E 1-module ICT System i327x Series 5 E9901E 1 模块在线测试(ICT)系统,i327x 系列 5 

    E9901E 1 模块在线测试(ICT)系统,i327x 系列 5

    E9901E 支持最多 1296 个测试点,以及新的系列 5 基础架构,适用于灵活的外部电子设备连接和更高的模拟测试速度。