- 64 位 PLTS 程序支持超大 s 参数文件
- 为多通道仿真提供 PAM4 眼图 DFE 自动抽头优化
- 实施的新标准:JCOM(JEDEC 通道运行裕量)
全新 PLTS 2020 64 位应用软件的功能
全新的物理层测试系统(PLTS)2020 版软件是对高速互连器件(例如电缆、背板、PCB 和连接器)进行信号完整性测量和数据后期处理的行业标准解决方案。全球许多信号完整性实验室已经在研发原型测试阶段使用 PLTS 并受益匪浅。PLTS 2020 现在已迁移到功能强大的 64 位应用程序,从而充分发挥了高端口数 S 参数测量的优势。当今的互联网基础设施需要进行多端口通道分析,以避免可能引起误码的串扰问题。这款新的 64 位 PLTS 应用软件支持更深的存储器,使用户能够保存 16 端口和 32 端口 s 参数测量的大型数据文件。
PAM4 眼图 DFE 自动抽头优化
PLTS 2020 的另一项重大改进是在多通道仿真器中添加了分布式反馈均衡(DFE)自动抽头。这使得具有简单用户界面的 PAM4 眼图可以自动选择那些能够最有效地打开接收机眼图的抽头。虽然 DFE 滤波器在反馈环路中加入了决策电路,但用户不一定就能选择到恰当极点和零点,从而获得最佳结果。通过在 PLTS 中自动选择抽头,用户可以快速获得最佳眼图,从而
节省通道设计时间。
自动夹具移除(AFR)算法增强
自动夹具移除是行业标准的测试夹具去嵌入工具,它能够去除测试夹具对通道测量结果的影响,获得精确的器件 S 参数测量结果,使用户再也不用担心夹具导致的性能下降。在某些应用中出现问题,可能是因为世界上的很多实验室所使用的测试夹具设计并不完善、性能也不完美。这些不起眼的测试夹具可能包含一些缺陷,例如差分偏移、反射、接地层中断等,这些缺陷很容易导致串扰和模式转换。某些测试夹具具有较大的阻抗不连续性,很可能严重影响去嵌入算法的准确性,而 AFR 经过了进一步优化,无论这些测试夹具有什么样的设计问题,都能对它们进行精确的传播时延测量。总之,更强大的去嵌入功能能够实现更高精度的测量。
实施的新标准:JCOM
通道运行裕量(COM)是一个成熟的指标,高速数字设计人员现在正在使用这个指标来考量有源与无源通道组件之间的设计折中。事实证明该方法是灵活高效的,尽管在信号完整性实验室中实施起来有些困难。通过在简单易用的外壳中运行 COM MATLAB 动态链接库,PLTS 2020 的可用性大大增强,因此随着不断演进,COM 越来越受到工程界和标准化委员会机构(例如 OIF-CEI、光纤通道和 JEDEC)的大力支持。COM 标准的最新变体称为 JCOM(JEDEC COM)。JCOM 支持定制器件封装和收发信机模型与 COM 算法结合使用,从而解决了 COM 的一些局限性。JCOM 中的新概念与器件变量有关,例如上升时间/下降时间滤波器、端子和封装。计算算法与 IEEE 802.3 COM 中的算法相似,但是对发射机/接收机通道与发射机上升时间/下降时间的每种可能组合都执行了均衡优化。JCOM 作为所有这些组合的最小值进行计算,计算结果与 2 dB 阈值进行比较,进行通道一致性检查。是德科技研发工程师始终紧密跟踪和引入最新标准,使 PLTS 保持技术领先地位,能够轻松优化产品设计,帮助产品实现最佳性能。
硬件支持
PLTS 2020 还支持同类产品中最出色的高性能 PXI 和 USB 矢量网络分析仪系列。这些灵活、可扩展且可重新配置的仪器使您可以轻松完成产品的研发和制造。这些仪器包括 M980XA 和 P500XA 系列 PNA 系列矢量网络分析仪模块(频率高达 20 GHz),并可在一个测试平台中提供高达 50 端口的 VNA 测量。单台仪器具备 140 dB 的动态范围,并可执行全交叉校准,能够同时表征 12 个差分互连通道。其高性能 s 参数表征能力超越以往产品。
PNA 系列固化软件、升级和支持
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