Provides measurement accuracy, versatility, and ease of use for on-wafer and coaxial measurements

HIGHLIGHTS

  • 适用于85/110 GHz 1 mm测试系统的测量精度和多功能性
  • 可轻松用于晶片和同轴测量
  • 插入损耗:0.7 dB
  • 回波损耗:20 dB
  • 最大CW功率:10 W
  • 可重复性:-35 dB(1.0 mm);-44 dB(2.4 mm)

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