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已停止生产的可靠性测试设备--先进可扩展标准化可靠性(ASUR)解决方案

一次完美的技术风暴
 

行业所面临的困境: 创新蕴含着更高的风险
纳米级技术和新材料的开发使测试挑战成为业界关注的焦点。 从技术报告和发展蓝图到分析家的报告可以看出,从 300 毫米工艺时代开始,测试对半导体行业的影响就变得极其显著;在选择新材料的过程中,可靠性数据必不可少。 因此对现代化制造来说,进行可扩展和经济高效的参数和可靠性测试至关重要。

ASUR 系列:

一款硬件,一款软件,从仪器到系统
ASUR 是一款可扩展的解决方案,其中数据可以从仪器关联到系统以及配套的测试仪。 ASUR 可在 IDM、代工厂、无厂设计公司和设备公司中使用 ASUR,一方面可以缩短开发周期,另一方面有助于控制成熟过程。 它对于 IC 生命周期的所有阶段都非常重要--开发、质检、生产,以及可靠性问题的快速识别,包括成熟过程。

  • 精密的体系结构和可扩展的测试控制

- 业界唯一的真正可扩展平台解决方案体系结构
- 在一个软件中实现真正严格的按针测试到多组测试

  • 内部具有 Keysight WLR 技术 DNA

- 是德可靠性 DNA 现在已经发展到第 5 代
- 一个软件系列、一个硬件系列;毫无疑问

  • 卓越的现象检测

- 在捕获新可靠性现象时提供更出色的精密度和控制
- 利用先进的检测机制提供更精确的统计数据,从而制定更好的决策

  • 业界唯一的专用可靠性分析环境

- 强大的综合分析和问题解决能力使用户可以立即掌握相关情况
- 半导体测试行业中最早问世且 10 年来唯一不断发展的分析标准

  • 加快您做出业务决策的速度

- 实时做出自信的营销决策和规划
- 降低成本,同时加快速度,提高确定度和置信度

  • C1280A ASUR 并联器件可靠性(ASUR PDR) [已淘汰] C1280A ASUR 并联器件可靠性(ASUR PDR) [已淘汰] 

    C1280A ASUR 并联器件可靠性(ASUR PDR) [已淘汰]

    ASUR PDR 是一款长期适用的高性能快速可靠性解决方案,可通过 Windows 平台仪器解决方案进行多站点并行测试。

  • C1281A ASUR 单一器件可靠性(ASUR SDR) [已淘汰] C1281A ASUR 单一器件可靠性(ASUR SDR) [已淘汰] 

    C1281A ASUR 单一器件可靠性(ASUR SDR) [已淘汰]

    ASUR SDR 是一款高性能、低成本的快速可靠性和参数解决方案,可通过 Windows 平台仪器解决方案进行单一站点测试。

  • C1282A ASUR 可靠性数据分析仪(ASUR RDA) [已淘汰] C1282A ASUR 可靠性数据分析仪(ASUR RDA) [已淘汰] 

    C1282A ASUR 可靠性数据分析仪(ASUR RDA) [已淘汰]

    ASUR RDA 是一款高性能、低成本的快速可靠性和参数测试数据分析解决方案。 ASUR RDA 可加快在被测件寿命周期内的数据提取,更快地进行测试和制定决策。

  • 可靠性和参数测试咨询 [已淘汰] 可靠性和参数测试咨询 [已淘汰] 

    可靠性和参数测试咨询 [已淘汰]

    Core Wafer System 公司从事半导体行业的历史已经超过百年,积累了极其渊博的知识,涉及参数和可靠性测试的几乎所有方面......

  • 生产晶圆级可靠性(PDQ-WLR) [已淘汰] 生产晶圆级可靠性(PDQ-WLR) [已淘汰] 

    生产晶圆级可靠性(PDQ-WLR) [已淘汰]

    PDQ-WLR 是一款总体晶圆级可靠性解决方案,支持您进行生产、开发和质量检验