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集成光电测试产品

是德科技提供了多种测试解决方案，用于快速、高效地执行集成光电和硅光技术晶圆级和芯片级测试，包括：

- 利用以下组件执行 1240-1640 nm 波长的波长和偏振相关光学测量及光电测量

- 利用以下组件执行频率高达 110 GHz 的高频光电测量

- 利用 FormFactor CM300xi 硅光探针台 执行晶圆探测

- 利用以下组件实现测试自动化：

keysight-integrated-photonic

  • KS8400A 自动化测试平台开发人员系统 KS8400A 自动化测试平台开发人员系统 

    KS8400A 自动化测试平台开发人员系统

    • 强大、灵活和可扩展的测试序列发生器软件。
    • 计时分析仪帮助优化测试方案的执行速度。
    • 结果查看器帮助显示、比较和分析测试方案数据
    • GUI 简化测试方案的生成和故障诊断

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  • 光应用软件套件 光应用软件套件 

    光应用软件套件

    N7700A 光应用软件套件是一个模块化软件平台，可以快速而方便地表征和分析光元器件与信号。

    查看详情

  • N4370P01A LCA TAP 插件 N4370P01A LCA TAP 插件 

    N4370P01A LCA TAP 插件

    • 针对配有单端或平衡射频端口的器件的测试步骤
    • 为测量设置、校准和去嵌入提供清晰的步骤设置
    • 在 TAP 结果查看器中提供结果显示模板

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  • N7700210C 晶圆探针台 TAP 插件 N7700210C 晶圆探针台 TAP 插件 

    N7700210C 晶圆探针台 TAP 插件

    • 在 TAP 测试序列中轻松集成晶圆探针台控制程序
    • 自动器件步进、光电探头定位和对准
    • 支持阵列/单光纤探头、边缘和表面耦合、射频/直流探头

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