集成光电测试产品
是德科技提供了多种测试解决方案,用于快速、高效地执行集成光电和硅光技术晶圆级和芯片级测试,包括:
- 利用以下组件执行 1240-1640 nm 波长的波长和偏振相关光学测量及光电测量
- 利用以下组件执行频率高达 110 GHz 的高频光电测量
- 利用 FormFactor CM300xi 硅光探针台 执行晶圆探测
- 利用以下组件实现测试自动化:
- 使用 KS8400A 是德科技测试自动化平台(TAP)定义和执行测试方案及测量计划
- 使用 N7700210C 晶圆探针台 TAP 插件自动控制晶圆探针台
- 使用 N4370P01A LCA TAP 插件自动执行电/光和光/电 LCA 测量
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KS8400A 自动化测试平台开发人员系统
KS8400A 自动化测试平台开发人员系统
- 强大、灵活和可扩展的测试序列发生器软件。
- 计时分析仪帮助优化测试方案的执行速度。
- 结果查看器帮助显示、比较和分析测试方案数据
- GUI 简化测试方案的生成和故障诊断