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Take advantage of our 15% bundle discount for advanced non-volatile memory tests when you purchase the semiconductor device analyzer and its modules.

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特点

一台半导体参数分析仪抵得上多种测量仪器

Keysight B1500A 半导体参数分析仪是一款一体化器件表征分析仪，能够测量 IV、CV、脉冲/动态 IV 等参数。 主机和插入式模块能够表征大多数电子器件、材料、半导体和有源/无源元器件。 B1500A 模块化体系结构可以根据需要灵活升级。

  • 可以在 CV 和 IV 测量之间快速切换，无需重新连接线缆
  • 能够捕获其他传统测试仪器无法捕获的超快速瞬态现象
  • 能够检测 1 kHz 至 5 MHz 范围内的多频交流电容测量值
  • 配有直观的 15 英寸触摸屏界面，无需借助外部计算机，即可进行数据分析
  • 一台 B1500A 主机中拥有多达 10 个插槽，您可以灵活选择为其配备的测量模块
  • 使用界面直观的 EasyEXPERT group+ 软件，享受 15 英寸宽触摸屏的便捷体验
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为什么要选择我们的产品？

卓越的测量能力

您可以信心十足地表征器件/材料

B1500A 的分辨率达到 0.5 V 和 0.1 fA，堪称是德科技最佳的低电压和小电流测量工具。 它还具有 100 纳秒的脉冲 IV 测量速率和 5 纳秒的采样率，不受负载线路的影响。

完整的一体化解决方案
 

puzzle solution icon

一个完整的解决方案，可以满足您的各种器件表征需求

B1500A 可以满足从基本电流电压（I/V）和电容电压（CV）表征到超快速脉冲 IV 测试的各种需求。 它拥有多达十个插槽，可灵活选配和升级各种模块，满足未来的测量需求。 B1500A 是一款具有触摸屏功能的一体化解决方案，在 Windows 平台上运行。

出色的软件
 

Device Benchmark Toolset

使用 EasyEXPERT group+ 更简单地完成器件表征

B1500A 包含功能丰富的软件和 300 多种现成的应用测试，您只需简单三步即可完成测量。 您可以通过自动执行图形显示、分析和参数提取来提高测试效率。 它还提供了半自动晶圆探针台，让您能够轻松实施开关矩阵控制和自动化测试。

经济高效
 

Cost Reduction

以更低的成本获得多样化的测量功能

  • 如果您是研究人员或是教育工作者，请不要再犹豫。立即购买 B1500A 主机，可节省 30% 的费用。
  • 如果您负责 ReRAM、PCRAM 和 FeRAM 等先进 NVM 的评测，在先进 NVM 测试配置中使用 B1500A 可节省 15% 的费用。
  • 如果您想要自动测量晶圆的随机电报噪声（RTN），W7801B WGFMU 测量软件套件可以满足您的愿望，而且费用也很低。

3 步完成器件表征

使用 B1500A 半导体参数分析仪或计算机上安装的 EasyEXPERT group+ 表征软件。 EasyEXPERT group+ 软件包含 300 多种现成的应用测试，因此您只需简单的 3 个步骤便可完成测量。

第 1 步：从一个内置应用测试库中选择测量。

第 2 步：修改测量参数并将表征保存在您的收藏夹中

第 3 步：按下测量按钮，结果会以图形方式显示

主要技术指标

最大输出范围

200 V / 1 A

最大 SMU 通道数

10

连接器类型

有源防护三轴

最高测量分辨率

0.1 fA / 0.5 µV

连通性

GPIB、USB、LAN、VGA

想要了解更多技术指标？

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扩展功能

软件
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附件
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服务
查看所有服务
支持
查看所有支持

半导体参数分析仪特色资源

技术概述 2019.08.23

B1500A 半导体器件分析仪

B1500A 半导体器件分析仪

本技术概览对完整的器件表征解决方案做了阐述，介绍了如何使用 B1500A 半导体器件分析仪来满足各种测量需求，包括从基本的 IV 和 CV 测量到超快速脉冲及瞬态 IV 测量。

2019.08.23

Data Sheets 2022.11.02

B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer

B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer

The Keysight B1500A Semiconductor Device Analyzer is a modular instrument with a ten-slot configuration that supports both IV and CV measurements. Its familiar MS Windows user interface supports Keysight’s new EasyEXPERT software, which provides a new, more intuitive task-oriented approach to device characterization. Because of its extremely low-current, low-voltage, and integrated capacitance measurement capabilities, the Keysight B1500A can be used for a wide range of semiconductor device characterization needs.

2022.11.02

宣传单 2021.12.01

购买B1500A非易失性内存（NVM）测试方案，节省15%费用

购买B1500A非易失性内存（NVM）测试方案，节省15%费用

当订购B1500A，包含两个SMU(从MPSMU/HRSMU/HPSMU)，一个WGZFMU和一个HV-SPGU 时，可享受15%的折扣，包括第一年的KeysightCare 服务。

2021.12.01

宣传单 2021.06.03

购买半导体测试分析仪用于高校研发，节省30%的费用

购买半导体测试分析仪用于高校研发，节省30%的费用

是德科技支持高校研发，特推出特殊折扣选件B1500A-EDU，节省30%的投资

2021.06.03

Product Fact Sheets 2021.12.03

B1500A Device Parameter Analyzer for Advanced Nonvolatile Memories (NVMs)

B1500A Device Parameter Analyzer for Advanced Nonvolatile Memories (NVMs)

This document describes the evaluation of the Advance NVM (ReRAM, PCRAM and FeRAM) characterization such as Set (Write), Reset (Erase) and Endurance Test using B1500A.

2021.12.03

Technical Overviews 2017.12.01

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

Challenges and Solutions for Material Science/Engineering Testing Applications

This technical overview introduces Keysight solutions for material science and engineering test applications.

2017.12.01

Data Sheets 2019.01.14

Creating a Test Sequence Using Keysight EasyEXPERT Software

Creating a Test Sequence Using Keysight EasyEXPERT Software

This 16-page application note demonstrates how a test sequence can be created using tests from the CMOS category using the furnished EasyEXPERT "Id-VD" and "Vth gmMax" application test definitions as an example.

2019.01.14

Application Notes 2023.12.07

Capacitance Measurement Basics for Device/Material Characterization

Capacitance Measurement Basics for Device/Material Characterization

This application note explains capacitance measurement basics for device/material characterization using Keysight B1500A Semiconductor Device Analyzer.

2023.12.07

Application Notes 2014.07.31

Customizing Keysight's B1500 EasyEXPERT Application Tests

Customizing Keysight's B1500 EasyEXPERT Application Tests

See how easy it is to change the input parameter range in a furnished B1500A semiconductor device analyzer application test to test newer devices.

2014.07.31

Application Notes 2019.10.10

Quasi-Static Capacitance Voltage Measurement Techniques

Quasi-Static Capacitance Voltage Measurement Techniques

How to perform quasi-static capacitance voltage measurements using the B1500A semiconductor device analyzer using capacitance voltage measurement techniques!

2019.10.10

Application Notes 2017.12.01

Improve the Accuracy and Efficiency for Organic-Thin Film Transistor (Organic-TFT) Characterization

Improve the Accuracy and Efficiency for Organic-Thin Film Transistor (Organic-TFT) Characterization

This application note provides the technical information for the organic thin film transistor (Organic-TFT) measurement using the B1500A Semiconductor Device Analyzer.

2017.12.01

应用指南 2019.10.19

使用 B1500A WGFMU 模块测量先进 MOSFET 的随机电报噪声（RTN）

使用 B1500A WGFMU 模块测量先进 MOSFET 的随机电报噪声（RTN）

本应用指南介绍了使用 B1500A WGFMU 模块测量先进 MOSFET 的随机电报噪声（RTN）的方法，并给出了实际的测量示例。

2019.10.19

Application Notes 2017.12.01

Sheet Resistivity and Sheet Resistance Measurement Using an SMU

Sheet Resistivity and Sheet Resistance Measurement Using an SMU

Learn resistance measurement basics and see how Keysight’s current-voltage analyzer allows you to perform easy, accurate sheet resistance measurements.

2017.12.01

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