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광 신호의 편광 속성을 분석하는 테스트 및 측정 기능은 오늘날의 광 R&D 실험실과 제조 현장에 필수적입니다. 키사이트 N778x 편광 분석 및 제어 시리즈는 광 콤포넌트와 서브시스템의 고성능 특성화와 검증을 위한 고속 장비를 제공합니다.

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광 편극 및 분산 솔루션

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N7781C
키사이트 N7781C는 광 신호의 편광성을 분석하는 소형 고속 분석기입니다. 여기에는 프왕카레구(스토크스 파라미터)에 대한 편광 상태(SOP)의 표현이 포함됩니다. 
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키사이트 N7781C는 광 신호의 편광성을 분석하는 소형 고속 분석기입니다. 여기에는 프왕카레구(스토크스 파라미터)에 대한 편광 상태(SOP)의 표현이 포함됩니다.
N7785C
The Keysight Technologies N7785C is a high-speed synchronous scrambler that can repeatably switch through a series of states of polarization (SOP) with both input and output triggering functions. 
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The Keysight Technologies N7785C is a high-speed synchronous scrambler that can repeatably switch through a series of states of polarization (SOP) with both input and output triggering functions.
N7786C
The Keysight N7786C is a high-speed lithium-niobate based polarization controller with built-in polarimeter for monitoring and feedback to set and stabilize sequences of chosen output polarization states. 
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The Keysight N7786C is a high-speed lithium-niobate based polarization controller with built-in polarimeter for monitoring and feedback to set and stabilize sequences of chosen output polarization states.
N7788C
N7788C는 키사이트 조정 가능 레이저와 함께 단일 스위프 알고리즘을 사용한 광 콤포넌트와 파이버의 빠른 스펙트럼 DGD/PMD 및 PDL 측정과 유연한 실험실 사용을 지원하기 위해 편광계와 편광 조절기를 결합한 제품입니다. 
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N7788C는 키사이트 조정 가능 레이저와 함께 단일 스위프 알고리즘을 사용한 광 콤포넌트와 파이버의 빠른 스펙트럼 DGD/PMD 및 PDL 측정과 유연한 실험실 사용을 지원하기 위해 편광계와 편광 조절기를 결합한 제품입니다.
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혁신적인 테스트 자산 보호

특집 리소스: 광 편극 및 분산 솔루션

Data Sheets 2019.11.18

N7786B Polarization Synthesizer

N7786B Polarization Synthesizer

This data sheet describes the N7786B Polarization Synthesizer. The N7786B contains a high-speed Lithium-Niobate based polarization controller and a polarization analyzer plus a microcontroller-based driving circuitry.

2019.11.18

Brochures 2018.03.07

Lightwave Catalog: Test & Measurement Networks and Data Centers

Lightwave Catalog: Test & Measurement Networks and Data Centers

The catalog for high-performance optical T&M solutions provides information on test applications and test equipment for core fiber networks and data centers.

2018.03.07

Application Notes 2021.11.28

Wafer and Chip-Level Optical Test

Wafer and Chip-Level Optical Test

See how the N7700 Lambda Scan test system supports integrated photonics with polarization alignment for optical testing of wafers and chips.

2021.11.28

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